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半导体器件质量等级

标准号:GJB 5914-2006   标准名称:各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法       2006-12-15

基本信息

【名称】 半导体器件质量等级
【英文名称】 quality class of semiconductor devices
【定义】 半导体器件装机使用之前,按产品执行标准或供需双方的技术协议,在制造、检验及筛选过程中其 质量的控制等级。 例如:按 GJB/Z 299B-1998 中将军用密封半导体集成电路分为 A1、A2、A3、A4、B1、B2、C1和 C2八个质量等级; 将军用混合集成电路(含多芯片组件)、军用半导体分立器件分为 A1、A2、A3、A4、B1、B2和 C 七个质量等级。

同源术语

·半导体器件在电子线路或电子设备中执行电气、电子、电磁、机电和光电功能的基本单元。该基本单元可由包 括半导体材料在内的多个零件组成,通常不破坏是不能将其分解的。
·破坏性物理分析为验证半导体器件的设计、结构、材料和制造质量是否满足预定用途或有关规范的要求,对半导体 器件样品进行解剖,以及解剖前后进行一系列检验和分析的全过程。
·生产批在同一生产线上采用相同的设计、结构、材料、工艺、控制,按相同的产品规范制造出来的一批半 导体器件。生产批一般以半导体器件外壳上标注的生产日期代码或批号来识别。
·缺陷外形、装配、功能或工艺不符合规定的要求即构成缺陷。 当 DPA 用于批质量评价时,除非另有说明,半导体器件的缺陷将作为批拒收的依据。
·批次性缺陷在设计、制造过程造成的、在同一批半导体器件中重复出现的缺陷。 例如:半导体器件由于掩膜造成的钝化层、金属化层缺陷等。
·可筛选缺陷可用有效的非破坏性检验方法筛选剔除的缺陷。

相关术语

·质量等级与质量系数 Q π电子元器件的质量直接影响其失效率,手册中给出了各类元器件的质量等级与质量系数。 质量等级即指元器件装机使用之前。在制造、试验及筛选过程中其质量的控制等级。质 量系数Qπ 即是不同质量等级的元器件失效率影响的修正系数。
GJB 299-87 电子设备可靠性预计手册)
·质量等级根据我国电子元器件的质量情况,手册给出了集成电路、半导体分立器件及电子元件的质 量等级:



GJB 299-87 电子设备可靠性预计手册)
·质量等级评定指挥自动化用计算机和主要装备的质量及技术状况的级别,分新品、堪用品、待修品和废品。
GJB 4053A-2009 指挥自动化用计算机和主要装备退役报废准则)
·质量等级按《中国人民解放军武器装备管理条例》规定评定的指挥监控装备质量和技术状况的级别,分新品、 堪用品、待修品和废品等。
GJB 6863-2009 地地导弹指挥监控装备退役报废准则)
·话音信号质量等级根据通信设备接收的话音信号强度。清晰度等进行综合评定所划分的等级。
GJB 2763-96 通信设备话音质量等级标准与评测方法)
·质量等级单台(套)装备根据其不同的质量级值所划分的级别。导弹部队作战保障装备质量等级分为四级。
GJB 6288-2008 地地导弹部队作战保障装备退役报废标准)
·质量等级与质量系数Qπ元器件质量等级是指元器件装机使用之前,在制造、试验及筛选过程中其质量的控制等 级。质量系数是指不同质量等级对元器件工作失效率影响的调整系数。
GJB/Z 299A-91 电子设备可靠性预计手册)
·电子元器件质量等级元器件装机之前按产品规范或技术协议,在制造、检验及筛选过程中其质量的控制等级。
GJB/Z 108A-2006 电子设备非工作状态可靠性预计手册)
·元器件质量等级元器件装机使用之前,按产品执行标准或供需双方的技术协议,在制造、检验及筛选过程 中其质量的控制等级。
GJB/Z 299B-98 电子设备可靠性预计手册)
·元器件质量等级元器件装机使用之前,按产品执行标准或供需双方的技术协议,在制造、检验及筛选过程中其质量 的控制等级。
GJB/Z 299C-2006 电子设备可靠性预计手册)