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半导体器件质量等级
标准号:
GJB 5914-2006
标准名称:各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法
2006-12-15
基本信息
【名称】
半导体器件质量等级
【英文名称】
quality class of semiconductor devices
【定义】
半导体器件装机使用之前,按产品执行标准或供需双方的技术协议,在制造、检验及筛选过程中其 质量的控制等级。 例如:按 GJB/Z 299B-1998 中将军用密封半导体集成电路分为 A1、A2、A3、A4、B1、B2、C1和 C2八个质量等级; 将军用混合集成电路(含多芯片组件)、军用半导体分立器件分为 A1、A2、A3、A4、B1、B2和 C 七个质量等级。
同源术语
·
半导体器件
:
在电子线路或电子设备中执行电气、电子、电磁、机电和光电功能的基本单元。该基本单元可由包 括半导体材料在内的多个零件组成,通常不破坏是不能将其分解的。
·
破坏性物理分析
:
为验证半导体器件的设计、结构、材料和制造质量是否满足预定用途或有关规范的要求,对半导体 器件样品进行解剖,以及解剖前后进行一系列检验和分析的全过程。
·
生产批
:
在同一生产线上采用相同的设计、结构、材料、工艺、控制,按相同的产品规范制造出来的一批半 导体器件。生产批一般以半导体器件外壳上标注的生产日期代码或批号来识别。
·
缺陷
:
外形、装配、功能或工艺不符合规定的要求即构成缺陷。 当 DPA 用于批质量评价时,除非另有说明,半导体器件的缺陷将作为批拒收的依据。
·
批次性缺陷
:
在设计、制造过程造成的、在同一批半导体器件中重复出现的缺陷。 例如:半导体器件由于掩膜造成的钝化层、金属化层缺陷等。
·
可筛选缺陷
:
可用有效的非破坏性检验方法筛选剔除的缺陷。
相关术语
·
质量等级与质量系数 Q π
:
电子元器件的质量直接影响其失效率,手册中给出了各类元器件的质量等级与质量系数。 质量等级即指元器件装机使用之前。在制造、试验及筛选过程中其质量的控制等级。质 量系数Qπ 即是不同质量等级的元器件失效率影响的修正系数。
(
GJB 299-87
电子设备可靠性预计手册)
·
质量等级
:
根据我国电子元器件的质量情况,手册给出了集成电路、半导体分立器件及电子元件的质 量等级:
(
GJB 299-87
电子设备可靠性预计手册)
·
质量等级
:
评定指挥自动化用计算机和主要装备的质量及技术状况的级别,分新品、堪用品、待修品和废品。
(
GJB 4053A-2009
指挥自动化用计算机和主要装备退役报废准则)
·
质量等级
:
按《中国人民解放军武器装备管理条例》规定评定的指挥监控装备质量和技术状况的级别,分新品、 堪用品、待修品和废品等。
(
GJB 6863-2009
地地导弹指挥监控装备退役报废准则)
·
话音信号质量等级
:
根据通信设备接收的话音信号强度。清晰度等进行综合评定所划分的等级。
(
GJB 2763-96
通信设备话音质量等级标准与评测方法)
·
质量等级
:
单台(套)装备根据其不同的质量级值所划分的级别。导弹部队作战保障装备质量等级分为四级。
(
GJB 6288-2008
地地导弹部队作战保障装备退役报废标准)
·
质量等级与质量系数Qπ
:
元器件质量等级是指元器件装机使用之前,在制造、试验及筛选过程中其质量的控制等 级。质量系数是指不同质量等级对元器件工作失效率影响的调整系数。
(
GJB/Z 299A-91
电子设备可靠性预计手册)
·
电子元器件质量等级
:
元器件装机之前按产品规范或技术协议,在制造、检验及筛选过程中其质量的控制等级。
(
GJB/Z 108A-2006
电子设备非工作状态可靠性预计手册)
·
元器件质量等级
:
元器件装机使用之前,按产品执行标准或供需双方的技术协议,在制造、检验及筛选过程 中其质量的控制等级。
(
GJB/Z 299B-98
电子设备可靠性预计手册)
·
元器件质量等级
:
元器件装机使用之前,按产品执行标准或供需双方的技术协议,在制造、检验及筛选过程中其质量 的控制等级。
(
GJB/Z 299C-2006
电子设备可靠性预计手册)