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基本信息

GJB/Z 299A-91
电子设备可靠性预计手册
Reliability prediction handbook for electronic equipment
1991-12-23
1992-09-01
有效
杨家铿;徐赛英;李红彬;彭苏娥;张彤法;陈浩华;彭成信;王宛平;陈学军;莫郁薇;雷鸣;冯君国;高祥珠;钟开云;纪玲;文立春;潘勇;
机械电子工业部第五研究所
机械电子工业部
国防科学技术工业委员会
基本失效率;失效率模型;失效率曲线;质量系数;工作失效率
【范围】 1.1 主题内容 本手册为电子设备和系统的可靠性预计提供基本的数据和统一的方法,可作为我国电子 设备和系统进行可靠性预计的依据。 1.2 适用范围 本手册适用于军、民用电子设备和系统的可靠性预计。其中元器件应力分析可靠性预计法 适用于电子设备和系统的电路设计与实际硬件设计的后期,此时已具备了详细的元器件清单, 并进行了元器件的应力分析;元器件计数可靠性预计法适用于设备和系统设计的初期。本手册 亦适用于电子设备和系统相似设计方案间的比较。 本手册所提供的元器件失效率数据仅适用于在正常工作条件下工作的电子设备可靠性预 计;凡过应力使用,超过基本失效率表所列值的任何外推(如高温或低温,或电应力比大于 1 或 等于 0)都是无效的。 本手册数据不适用于核辐射环境,也未考虑电离辐射的影响。
【与前一版的变化】

包含术语

基本失效率bλ电子元器件基本失效率是电子元器件在电应力和温度应力作用下的失效率,是电子元器 件未计其质量控制等级、环境应力、应用状态、功能额定值和种类、结构等影响因素,仅计温度 和电应力比(工作电应力/额定电应力)影响时的失效率。 基本失效率通常用温度(T)和电应力比(s)对电子元器件失效率影响的关系模型来表示。
工作失效率pλ元器件工作失效率是元器件在应用环境下的失效率。除个别元器件类别外,工作失效率除 考虑温度、电应力外,还要考虑元器件质量控制等级、环境应力、应用状态、功能额定值和种类、 结构等的影响。即:通常由基本失效率乘以上述各因素的调整系数来表示。
环境类别与环境系数Eπ环境类别是电子设备正常工作的环境类型。环境系数Eπ 是指不同环境类别的环境应力 (除温度应力之外)对元器件工作失效率影响的调整系数。
质量等级与质量系数Qπ元器件质量等级是指元器件装机使用之前,在制造、试验及筛选过程中其质量的控制等 级。质量系数是指不同质量等级对元器件工作失效率影响的调整系数。
工作失效率模型中的其它调整系数(π系数)a. 集成电路 Lπ ——器件成熟系数,指生产技术、工艺成熟程度的影响因素。 Tπ ——温度应力系数,指电路结温对电路(按工艺分类)失效率的影响因素。 Vπ ——电压应力系数,指电压应力降额的影响因素。 PTπ ——PROM 可编程序工艺系数,指编程技术的影响。 b. 半导体分立器件 Aπ ——应用系数,指应用电路功能的影响因素。 Rπ ——额定功率或额定电流系数,指功率或电流额定值的影响。 C π ——种类(结构)系数,指不同种类(结构)的影响。 S2π ——电压应力系数,指 bλ 内所含的电功率以外的二次电应力(外加电压)影响。 Tπ ——温度应力系数,是指温度应力的影响。 c. 电阻器、电位器R π ——阻值系数,指电阻器、电位器欧姆值的影响因素。 Kπ ——种类系数,指电位器种类的影响因素。 Cπ ——结构系数,指电位器结构的影响因素。 TAPSπ ——电位器引出端系数,指电位器引出端数量的影响因素。 d. 电容器SRπ ——串联电阻系数,指电容器在电路中串联电阻的影响因素。 CVπ ——容量系数,指电容量的影响。 Kπ ——种类系数,指不同种类的影响。 e. 感性元件 Kπ ——种类系数,指不同种类的影响。 Cπ ——结构系数,指不同结构(固定或可变)的影响因素。 f. 继电器 Cπ ——触点系数,指触点数量与型式的影响。 CYCπ ——动作速率系数,指动作速率的影啊。 Fπ ——结构和应用系数,指不同结构和应用场合的影响。 g. 连接器 Pπ ——接触件系数,指接触件数量的影响。 Kπ ——插拨系数,指插拨速率的影响。 h. 开关 Lπ ——触点负载系数,指触点负载种类的影响。 CYCπ ——动作速率系数。 i. 电子管 Lπ ——成熟系数,指产品现场使用成熟程度的影响因素。 Uπ ——利用率系数,指发射利用率对失效率的影响因素。 Cπ ——结构系数,指磁控管结构的影响因素。
通用工作环境温度通用工作环境温度是指各类元器件在某一环境类别下工作时其周围环境温度的通用值。 在元器件计数可靠性预计时采用此通用值。
通用失效率Gλ元器件通用失效率是指元器件在某一环境类别中,在通用工作环境温度和常用工作应力 下的失效率。在元器件计数可靠性预计时使用此通用失效率。

包含缩略语

CCD电荷耦合器件
CMOS互补金属氧化物半导体器件
CMOS/SOS在蓝宝石硅片上制作的 CMOS 器件
DIP双列直插封装
ECL发射极耦合逻辑电路
HTL高抗干扰逻辑电路
HTTL高速晶体管晶体管逻辑电路
LSTTL低功耗肖特基晶体管晶体管逻辑电路
MOS金属氧化物半导体器件
NMOSN 沟道金属氧化物半导体器件
PIN移相开关
PMOSP 沟道金属氧化物半导体器件
PROM可编程序只读存储器
RAM随机存取存储器
ROM只读存储器
SAW声表面波器件
STTL肖特基晶体管晶体管逻辑电路
TTL晶体管晶体管逻辑电路

引用文件/被引文件

微电路总规范
半导体分立器件总规范
有可靠性指标的薄膜固定电阻器总规范
热敏电阻总规范
合成电位器总规范
有可靠性指标的塑料膜(或纸-塑料膜)介质(金属
有可靠性指标的云母电容器总规范
有可靠性指标和没有可靠性指标的Ⅰ类瓷介电容器总规范
有可靠性指标的非密封多层片状瓷介电容器总规范
确立可靠性指标的固体钽电解电器总规格
有可靠性指标的模制射频固定电感器总规范
有可靠性指标的电磁继电器总规范
耐环境快速分离圆形连接器总规范
耐环境快速分离高密度小圆形连接器总规范
螺纹连接圆形连接器总规范
D系列矩形连接器总规范
3CX型气密封耐辐照圆形电连接器总规范
Y11小圆形电连接器总规范
耐环境线簧孔矩形电连接器总规范
压接接触矩形电连接器总规范
半导体集成电路总规范
半导体分立器件总规范
电子元器件详细规范 FG341052、FG343053 型半导体绿色发光二极管
电子元器件详细规范 FG313052 FG314053 FG313054 FG313055 型半导体红色发光二极管
阴极射线管总规范
空间电荷控制电子管总规范
电子设备用固定电阻器 第-部分总规范
直热式负温度系数热敏电阻器总规范
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范
电子设备用固定电容器 第-部分总规范
直流固定金属化纸介电容器总规范
电子设备用固定电容器 第十-部分 分规范:金属箔式聚乙烯对
电子设备用固定电容器 第二部分 分规范:金属化聚酯膜介质直流固定电容器
额定电压不超过 3000V 的固定直流云母电容器分规范
电子设备用固定电容器 第九部分 分规范:2 类瓷介固定电容器
电子设备用固定电容器 第九部分 分规范:2 类高压瓷介电容器
电子设备用固定电容器 第十部分 分规范:多层片状瓷介电容器
电子设备用机电开关 第-部分总规范
电子设备用键盘开关 第-部分总规范
音响设备用圆形连接器总规范
带状电缆连接器总规范
视频连接器总规范
通用硬同轴传输线及其法兰连接器总规范
无金属化孔单、双面印制板技术条件
人造石英晶体
半导体集成电路总技术条件
厚膜薄膜集成电路总技术条件
厚膜薄膜集成电路总技术条件
电子设备用声表面波器件总规范
半导体三极管总技术条件
半导体闸流管二类总技术条件
半导体发光器件二、三类总技术条件
半导体光敏管
半导体发光器件二、三类总技术条件
高压整流管总技术条件
闸流管与充气整流管总技术条件
充气稳压管总技术条件
稳流管总技术条件.
磁控管总技术条件
微波气体放电管总技术条件
低噪声行波管总技术条件
功率行波管总技术条件
“O”型返波管总技术条件
反射速调管总技术条件
计数管总技术条件
脉冲闸流管总技术条件
辉光放电显示管总技术条件
荧光数字符号指示管总技术条件
X射线管总技术条件
光电管总技术条件
光电倍增管总技术条件
噪声二极管和气体放电噪声管总技术条件
摄象管总技术条件
功率速调管总技术条件
中功率玻壳发射管总技术条件
大功率玻壳发射管总技术条件
高可靠超小型、姆指式收讯放大管总技术条件
小功率电子管总技术条件
小功率金属陶瓷电子管总技术条件
大功率金属陶瓷发射管总技术条件
电子束管总技术条件
黑白显象管技术条件
金属膜电阻器技术条件
精密线绕电阻器总技术条件
普通线绕电阻器总技术条件
低功率非线绕固定电阻器 R
电子设备用电位器第-部分总规范
聚苯乙烯电容器总技术条件
复合介质电容器总技术条件
交流电动机用电容器总规范
涤纶电容器总技术条件
纸介电容器总技术条件
CIZ型玻璃釉电容器技术条件
云母电容器总技术条件
高功率瓷介电容器总技术条件
雷达用小功率脉冲变压器总技术条件
彩色电视广播接收机用开关电源变压器总技术条件
电子设备用电源变压器和滤波阻流圈总技术条件
日用电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件
黑自电视接收机用回扫变压器总技术条件
黑白广播电视机用-体化回扫变压器总技术条件
电子设备用稳压变压器总技术条件
彩色电视广播接收机用枕校变压器总技术条件
彩色电视广播接收机用行推动变压器总技术条件
彩色电视广播接收机用音频输出变压器总技术条件
黑白电视接收机用偏转线圈总技术条件
电子设备用固定电感器总规范
彩色电视广播接收机用电源滤波电感总技术条件
干簧继电器总技术条件
电子时间继电器总技术条件
电磁继电器总技术条件
旋转片式开关(低电负荷)总技术条件
微动开关总技术条件
钮子开关总技术条件
指轮开关总技术条件
按钮开关总技术条件
滑动开关总技术条件
射频连接器总技术条件
圆形连接器总技术条件
带状电缆连接器总技术条件
矩形插头座总技术条件
印制电路插头座总技术条件
印制板通用技术要求和试验方法
振荡器用石英谐振器
舰用直流(在电流)空气断路器通用规范
舰船电气规范
舰用框架式低压断路器通用规范
空空导弹地面检测设备通用规范
舰用低压电器通用规范
核监测装备通用要求
机载大气数据计算机通用规范
军用雷达敌我识别器通用规范
航船汽轮发电机组及控制系统通用规范
军用计算机容错要求与测评
军用雷达模块化通用要求
野战气象仪通用规范
常规兵器遥测试验规程
航空发动机数字电子控制系统通用规范
陆军核爆监(探)测系统通用规范
常规潜艇动力装置自动控制系统通用规范
野战增量调制复用设备通用规范
无线电高度表通用规范
装甲防化侦察车通用规范
机载电子对抗设备通用规范
航空救生电台通用规范
军用传真机通用规范
机载电子对抗设备通用规范
船舱电子设备通用规范
舰载雷达情报系统通用要求设计制造要求
瞄准吊舱通用规范
宇航用电子元器件选用指南微波元器件
军用通信设备测量仪器通用规范
元器件降额准则
可靠性增长管理手册
宇航用电子元器件选用指南电容器
宇航用电子元器件选用指南半导体分立器件
宇航用电子元器件选用指南半导体集成电路
军用数字式风向风速仪通用规范
军用地面气压测量仪器通用规范
军用地面空气湿度测量仪器通用规范

相关标准

飞机维修品质规范航空电子设备维修品质的一般要求
飞机维修品质规范航空显示装置与电气设备维修品质的一般要求
军用小型数字电子计算机通用技术条件
常规兵器定型试验方法反坦克导弹系统 可靠性试验
常规兵器定型试验方法反坦克导弹系统 制导设备
潜艇直流推进电机及辅助设备规范
飞航导弹强度和刚度规范可靠性要求和重复载荷
地面雷达情报处理和传递系统通用技术条件系统可靠性考核方法
水面战斗舰艇系泊和航行试验规程载贷升降机设备试验
水面战斗舰艇系泊和航行试验规程厨房设备试验

包含图表

环境分类
半导体集成电路的工作
环境系数Eπ
半导体集成电路质量等
成熟系数Lπ
Tπ 表号汇总
半导体集成电路管壳温
结到管壳的热阻(C/W)
半导体集成电路结温的
密封的 TTL、HTTL、HT
密封的 STTL 电路、非
密封的 LSTTL、PMOS、
非密封的 CMOS 及 CMO
非密封的 PMOS、NMOS
密封的 CMOS 及 CMOS/
密封的双极及 MOS 型
非密封的双极及 MOS
电压应力系数研Vπ
CMOS 电路的Vπ
PROM 电路的可编程序
单片双极型数字电路的
单片 MOS 数字电路的
双极与 MOS 型模拟电
双极型随机存取存储器
MOS 及 CCD 随机存取
双极型 ROM 及 PROM
MOS 型 ROM 及 PROM
封装复杂度失效率 C3(
半导体集成电路失效形
混合集成电路的工作失
基本失效率
环境系数Eπ
混合集成电路质量等级
温度应力系数Tπ
电路功能系数Fπ
网络复杂度失效率Cλ (
厚膜与薄膜电阻的混合
混合集成电路外接元器
混合集成电路外接元器
工艺封装失效率SFλ (1
混合电路失效形式分布
工作失效率模型
环境系数Eπ
质量等级及质量系数π
工作失效率
工作失效率
工作失效率
工作失效率
工作失效率
半导体分立器件的分类
半导体分立器件的分类
晶体管及二极管的通用
基本失效率
半导体分立器件的基本
半导体分立器件质量等
环境系数Eπ
质量系数π
应用系数Aπ
额定功率系数Rπ
电压应力系数S2π
种类系数Cπ
失效形式分布
硅 NPN 晶体管基本失
硅 NPN 晶体管基本失
硅 PNP 晶体管基本失
硅 PNP 晶体管基本失
锗 PNP 晶体管基本失
锗 PNP 晶体管基本失
锗 NPN 晶体管基本失
锗 NPN 晶体管基本失
环境系数Eπ
质量系数Qπ
应用系数Aπ
种类系数Cπ
硅场效应晶体管的失效
场效应晶体管基本失效
场效应晶体管基本失效
环境系数Eπ
质量系数Qπ
失效形式分布
单结晶体管基本失效率
单结晶体管基本失效率
环境系数Eπ
2 质量系数Qπ
额定电流系数Rπ
失效形式分布
闸流晶体管基本失效率
闸流晶体管基本失效率
环境系数Eπ
质量系数
额定电流系数
电压应力系数
应用系数
结构系数
失效形式分布

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