| 元器件基本失效率： | 元器件在电应力和温度应力作用下的失效率，是元器件未计其质量控制等级、环境应力、
应用状态、性能额定值和种类、结构等影响因素，仅计温度和电应力比(工作电应力/额定电应
力)影响时的失效率。
基本失效率通常是用温度(T)和电应力比(S)对元器件失效率影响的关系模型来表示。 |
| 元器件工作失效率： | 元器件在应用环境下的失效率。除个别元器件类别外，工作失效率都包含基本失效率和
温度、电应力之外的元器件质量控制等级、环境应力、应用状态、性能额定值和种类、结构等失
效率影响因素。即，通常由基本失效率乘以上述各因素的调整系数来表示。 |
| 环境类别： | 电子设备正常工作的环境类型。 |
| 环境系数： | 不同环境类别的环境应力(除温度应力外)对元器件失效率影响的调整系数。 |
| 元器件质量等级： | 元器件装机使用之前，按产品执行标准或供需双方的技术协议，在制造、检验及筛选过程
中其质量的控制等级。 |
| 质量系数： | 不同质量等级对元器件工作失效率影响的调整系数。 |
| 通用工作环境温度： | 元器件在某一环境类别下工作时其周围环境温度的通用值。在元器件计数可靠性预计时
采用此通用值。 |
| 通用失效率： | 元器件在某一环境类别中，在通用工作环境温度和常用工作应力下的失效率。在元器件
计数可靠性预计时使用此通用失效率。 |