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纠正有效性系数
标准号:
GJB/Z 77-95
标准名称:可靠性增长管理手册
1995-10-16
基本信息
【名称】
纠正有效性系数
【英文名称】
fix effectiveness factor
【定义】
对产品的某个或某类故障纠正后,其故障率被减少的部分与纠正前的故障率之比,它表征纠正措施的有效程度。记B类故障纠正前的故障率为λB,纠正后的故障率为λB,,则纠正有效性系数为d=(λB—λB')/λB。
同源术语
·
可靠性增长
:
通过不断地消除产品在设计或制造中的薄弱环节,使产品可靠性随时间而逐步提高的过程。
·
可靠性增长管理
:
为达到预定的可靠性指标,对时间和其它资源进行系统的安排,并在估计值与计划值比较的基础上依靠重新分配资源对增长率进行的控制。
·
系统性故障
:
由某一固有因素引起,以特定形式出现的故障。它只能通过修改产品设计、生产过程设计、操作程序或其它关联因素来消除。系统性故障可以通过模拟故障原因来诱发。无改进措施的修复性维修通常不能消除系统性故障的故障原因。
·
残余性故障
:
这是系统性故障之外由于偶然因素而随机出现的一类故障,这类故障通常难以重现。
·
A类故障
:
这是一类受技术水平的限制不能经济地降低其故障率的故障。工程实践中,通常是指那些由于经费、时间、技术条件限制或其它原因,被确定为不进行纠正的系统性故障及所有的残余性故障。记A类故障的故障率为λA。
·
B类故障
:
这是一类能经济地降低其故障率的系统性故障。工程实践中,通常是指被确定为需要进行纠正的那些系统性故障。记B类故障的故障率为λB。
·
时间截尾数据
:
在非故障时刻终止的试验数据。
·
故障截尾数据
:
正好在故障时刻终止的试验数据。
·
纠正比
:
B类故障率与产品初始故障率之比。记初始故障率为λ1=λA+λB,则纠正比为Kλ=λB/λ。
·
验证值
:
产品试验到某一时刻时,根据试验数据的增长分析而得到的当时可靠性水平的估计值。
·
外推预测值
:
产品连续增长过程中,在试验条件与增长过程控制程度保持不变的条件下,以同样增长模型而外推的产品在未来某时刻的可靠性估计值。
·
延缓纠正预计值
:
产品在延缓纠正试验段结束后,利用增长预测模型,计算经纠正后产品在下一试验开始时的可靠性估计值。
·
累积故障率
:
产品试验到t时刻的累积故障数N(t)除以累积试验时间t,即λr(t)=N(t)/t。
·
累积MTBF
:
累积故障率的倒数,即θr(t)=1/λr(t)。
·
瞬时故障率
:
产品试验到t时刻的故障变化率,即^(t)=dN(t)/dt。
·
瞬时MTBF
:
瞬时故障率的倒数,即θ(t)=1/λ(t)。 其它有关术语按GJB 45 1。
相关术语
·
航炮故障率
:
它是航炮可靠性的一种指标。用航炮寿命范围内的故障次数与航炮寿命发数的分比表示。
(
GJB 312.4-87
飞机维修品质规范航空宫械维修吕质的一般要求)
·
故障率
:
火炮在使用时发生故障的概率。
(
GJB 744-89
火炮术语、符号)
·
故障率
:
产品可靠性的一种基本参数。其度量方法为:在规定的条件下和规定的期间内,产品的故障总数与 寿命单位总数之比。有时亦称失效率。
(
GJB 451A-2005
可靠性维修性保障性术语)
·
故障报告、分析、纠正措施系统
:
通过及时报告产品发生的故障,分析故障原因,并采取有效的纠正措施,以防止故障再现,实现可 靠性增长的一种管理系统。
(
GJB 451A-2005
可靠性维修性保障性术语)
·
射击故障率
:
在规定的使用条件下,执行射击任务时,发生导致射击停止的故障的概率。其度量方法 为导致射击停止的故障总次数与射击总发数之比。
(
GJB 3651-99
野战防空指挥自动化系统部队试验规程小口径高炮可靠性维修性要求与验证)
·
寿命单位当量故障率
:
规定工作区间所发生的累积当量故障数与工作区间的寿命单位长度的比值。
(
GJB 4386-2002
武器装备维修质量评定要求和方法)
·
影响等级程度表征量
:
用 0~100 的连续数字表征通信从正常到中断区间核爆炸影响程度的量化值。通常用信 号衰减值来表征,其量值以 dBw 表示。
(
GJB 4058-2000
低空核爆炸附加电离区对短波通信的影响等级)
·
故障报告、分析和纠正措施系统 FRACAS
:
是利用管理手段建立的一个可以确定装备故障原因的故障分析程序,改正措施的记录.以 及对所采取的改正措施进行跟踪的闭环系统。
(
HB 6185-89
航空技术装备维修性管理大纲)
·
故障率
:
某项产品在适用于它的单位寿命计量单位内(飞行次数、时间、使用周期数、事件次数、米 数等)发生的故障数。
(
GJB 2191-94
有人驾驶飞机飞行控制系统通用规范)
·
表征
:
通过数学模型、实验设计或统计数据评定来描述产品或过程特性。
(
GJB 3014-97
电子元器件统计过程控制体系)