基本信息

同源术语

·可靠性增长：	通过不断地消除产品在设计或制造中的薄弱环节,使产品可靠性随时间而逐步提高的过程。
·可靠性增长管理：	为达到预定的可靠性指标,对时间和其它资源进行系统的安排,并在估计值与计划值比较的基础上依靠重新分配资源对增长率进行的控制。
·系统性故障：	由某一固有因素引起,以特定形式出现的故障。它只能通过修改产品设计、生产过程设计、操作程序或其它关联因素来消除。系统性故障可以通过模拟故障原因来诱发。无改进措施的修复性维修通常不能消除系统性故障的故障原因。
·残余性故障：	这是系统性故障之外由于偶然因素而随机出现的一类故障,这类故障通常难以重现。
·A类故障：	这是一类受技术水平的限制不能经济地降低其故障率的故障。工程实践中,通常是指那些由于经费、时间、技术条件限制或其它原因,被确定为不进行纠正的系统性故障及所有的残余性故障。记A类故障的故障率为λA。
·B类故障：	这是一类能经济地降低其故障率的系统性故障。工程实践中,通常是指被确定为需要进行纠正的那些系统性故障。记B类故障的故障率为λB。
·时间截尾数据：	在非故障时刻终止的试验数据。
·故障截尾数据：	正好在故障时刻终止的试验数据。
·纠正比：	B类故障率与产品初始故障率之比。记初始故障率为λ1=λA+λB,则纠正比为Kλ=λB/λ。
·纠正有效性系数：	对产品的某个或某类故障纠正后,其故障率被减少的部分与纠正前的故障率之比,它表征纠正措施的有效程度。记B类故障纠正前的故障率为λB,纠正后的故障率为λB,,则纠正有效性系数为d=(λB—λB')/λB。
·验证值：	产品试验到某一时刻时,根据试验数据的增长分析而得到的当时可靠性水平的估计值。
·延缓纠正预计值：	产品在延缓纠正试验段结束后,利用增长预测模型,计算经纠正后产品在下一试验开始时的可靠性估计值。
·累积故障率：	产品试验到t时刻的累积故障数N(t)除以累积试验时间t,即λr(t)=N(t)/t。
·累积MTBF：	累积故障率的倒数,即θr(t)=1/λr(t)。
·瞬时故障率：	产品试验到t时刻的故障变化率,即^(t)=dN(t)/dt。
·瞬时MTBF：	瞬时故障率的倒数,即θ(t)=1/λ(t)。 其它有关术语按GJB 45 1。

相关术语

·加速试验条件：	采用一个或几个应力水平，其超过最大额定工作或贮存应力水平，但不大于“试验额定 值”。 （GJB 548A-96 微电子器件试验方法和程序）
·检验试验条件：	能客观地检查火控系统本身技术性能的射击试验条件。 （GJB 742-89 装甲车辆术语、符号）
·加速试验条件：	规定作为加速试验条件的一个或几个应力水平，其值超过最大额定工作或贮存应力水平，但不超过 试验额定值。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·正常试验条件：	当温度为 20±5℃，湿度为 30—80％，大 气压力为 750±30 毫米水银柱时，仪表能正 常工作的试验条件。 （HB/Z 19-79 航空仪表专业技术名词术语）
·试验条件：	试验中对试验样品施加的环境应力的大小和持续时间、负载和其他条件等。 （GJB 6117-2007 装备环境工程术语）
·试验条件容差：	在试验过程中，实际试验条件与规定试验条件允许的误差范围。 （GJB 6117-2007 装备环境工程术语）
·试验条件：	在试验过程中，试验样件和参试装备所处的环境和状态。 （GJBz 20053-91 航空武器装备定型试验报告编写要求）
·试验条件：	在试验过程中，试验样件和参试装备所处的环境和状态。 （GJBz20053-91 航空武器装备定型试验 报告编写要求）
·标准试验条件：	标准大气条件与规定的其他影响量变化范围或公差的一组条件相组合的综合条件。 （GJBz 20385-97 核辐射监测装备准确度通用规定）
·加速试验条件：	一种或几种应力值超过最大额定工作应力或贮存应力,但不大于“试验额定值”。 （MIL-STD-883E 微电子器件试验方法标准）