| ·可靠性增长： | 通过不断地消除产品在设计或制造中的薄弱环节,使产品可靠性随时间而逐步提高的过程。 |
| ·系统性故障： | 由某一固有因素引起,以特定形式出现的故障。它只能通过修改产品设计、生产过程设计、操作程序或其它关联因素来消除。系统性故障可以通过模拟故障原因来诱发。无改进措施的修复性维修通常不能消除系统性故障的故障原因。 |
| ·残余性故障： | 这是系统性故障之外由于偶然因素而随机出现的一类故障,这类故障通常难以重现。 |
| ·A类故障： | 这是一类受技术水平的限制不能经济地降低其故障率的故障。工程实践中,通常是指那些由于经费、时间、技术条件限制或其它原因,被确定为不进行纠正的系统性故障及所有的残余性故障。记A类故障的故障率为λA。 |
| ·B类故障： | 这是一类能经济地降低其故障率的系统性故障。工程实践中,通常是指被确定为需要进行纠正的那些系统性故障。记B类故障的故障率为λB。 |
| ·时间截尾数据： | 在非故障时刻终止的试验数据。 |
| ·故障截尾数据： | 正好在故障时刻终止的试验数据。 |
| ·纠正比： | B类故障率与产品初始故障率之比。记初始故障率为λ1=λA+λB,则纠正比为Kλ=λB/λ。 |
| ·纠正有效性系数： | 对产品的某个或某类故障纠正后,其故障率被减少的部分与纠正前的故障率之比,它表征纠正措施的有效程度。记B类故障纠正前的故障率为λB,纠正后的故障率为λB,,则纠正有效性系数为d=(λB—λB')/λB。 |
| ·验证值： | 产品试验到某一时刻时,根据试验数据的增长分析而得到的当时可靠性水平的估计值。 |
| ·外推预测值： | 产品连续增长过程中,在试验条件与增长过程控制程度保持不变的条件下,以同样增长模型而外推的产品在未来某时刻的可靠性估计值。 |
| ·延缓纠正预计值： | 产品在延缓纠正试验段结束后,利用增长预测模型,计算经纠正后产品在下一试验开始时的可靠性估计值。 |
| ·累积故障率： | 产品试验到t时刻的累积故障数N(t)除以累积试验时间t,即λr(t)=N(t)/t。 |
| ·累积MTBF： | 累积故障率的倒数,即θr(t)=1/λr(t)。 |
| ·瞬时故障率： | 产品试验到t时刻的故障变化率,即^(t)=dN(t)/dt。 |
| ·瞬时MTBF： | 瞬时故障率的倒数,即θ(t)=1/λ(t)。 其它有关术语按GJB 45 1。 |