基本信息

同源术语

·可靠性增长：	通过不断地消除产品在设计或制造中的薄弱环节,使产品可靠性随时间而逐步提高的过程。
·可靠性增长管理：	为达到预定的可靠性指标,对时间和其它资源进行系统的安排,并在估计值与计划值比较的基础上依靠重新分配资源对增长率进行的控制。
·系统性故障：	由某一固有因素引起,以特定形式出现的故障。它只能通过修改产品设计、生产过程设计、操作程序或其它关联因素来消除。系统性故障可以通过模拟故障原因来诱发。无改进措施的修复性维修通常不能消除系统性故障的故障原因。
·残余性故障：	这是系统性故障之外由于偶然因素而随机出现的一类故障,这类故障通常难以重现。
·A类故障：	这是一类受技术水平的限制不能经济地降低其故障率的故障。工程实践中,通常是指那些由于经费、时间、技术条件限制或其它原因,被确定为不进行纠正的系统性故障及所有的残余性故障。记A类故障的故障率为λA。
·B类故障：	这是一类能经济地降低其故障率的系统性故障。工程实践中,通常是指被确定为需要进行纠正的那些系统性故障。记B类故障的故障率为λB。
·时间截尾数据：	在非故障时刻终止的试验数据。
·故障截尾数据：	正好在故障时刻终止的试验数据。
·纠正比：	B类故障率与产品初始故障率之比。记初始故障率为λ1=λA+λB,则纠正比为Kλ=λB/λ。
·纠正有效性系数：	对产品的某个或某类故障纠正后,其故障率被减少的部分与纠正前的故障率之比,它表征纠正措施的有效程度。记B类故障纠正前的故障率为λB,纠正后的故障率为λB,,则纠正有效性系数为d=(λB—λB')/λB。
·验证值：	产品试验到某一时刻时,根据试验数据的增长分析而得到的当时可靠性水平的估计值。
·外推预测值：	产品连续增长过程中,在试验条件与增长过程控制程度保持不变的条件下,以同样增长模型而外推的产品在未来某时刻的可靠性估计值。
·累积故障率：	产品试验到t时刻的累积故障数N(t)除以累积试验时间t,即λr(t)=N(t)/t。
·累积MTBF：	累积故障率的倒数,即θr(t)=1/λr(t)。
·瞬时故障率：	产品试验到t时刻的故障变化率,即^(t)=dN(t)/dt。
·瞬时MTBF：	瞬时故障率的倒数,即θ(t)=1/λ(t)。 其它有关术语按GJB 45 1。

相关术语

·试验-分析-纠正-试验：	这是为达到可靠性增长在执行研制计划过程中所采取的一种试验方法.这种方法是使产 品处于模拟的使用环境，以便诱导出由于设计不周(含元器什选用不当)和工艺不良等而产生 的故障，对故障进行分析与纠正，并以试验的方式验证纠正措施的有效性.以消除或减少故障 的再度出现。 （HB/Z 214.3-92 航空产品可靠性增长试验）
·预测模型：	未来状态的值可预测或假设的模型。例如，根据不同地理位置温度、湿度、风速等的当前值预测天 气形势的模型。 （GJB 6935-2009 军用仿真术语）