基本信息

同源术语

·置信水平：	产品的真实失效率等于被定等级的最大失效率时，产品被判定为不合格的概率。
·失效率：	产品标准规定的额定条件下的失效率。
·失效率等级：	在规定置信水平下的最大失效率。通常以每试验1000h的失效百分数来表示(％/1000h)。 本标准规定的失效率等级为L(当规定时)，M(1)，P(0.1)，R(0.01)，S(0.001)。
·失效率试验：	为确定产品的失效率等级而进行的寿命试验。
·较高失效率等级：	描述单位时间内失效数较少的失效率等级。
·较低失效率等级：	描述单位时间内失效数较多的失效率等级。
·真实失效率：	当某一受控加工程序中的所有产品，都实际进行试验时所测得的失效率。“受控加工程 序”是指其失效率相对平均值的变化是由于偶然原因产生的一种加工程序。
·截止：	寿命试验数据的截止点，它在时间上规定了一个精确的点。在该截止点，承制方在下列两 种情况下，可以停止使用以前的升级寿命试验数据。 a. 在寿命试验中产生了失效，承制方已经确定了失效的原因，并执行了鉴定机构可以接 受的纠正措施。 b. 在寿命试验失败或多次失败之后，在新的设计改进的基础上，承制方在寻求失效率的 升级； 截止点不是一个随机事件，这是在“老”的不太可靠和“新”的设计改进之间必然存在的一 种差异(见5.5)。

相关术语

·组合站：	在高级数据链路控制(HDLC)中包括主级站和次级站的数据站。 （GJB 700-89 军用通信系统术语）
·分组组合／分解设备：	一种能使不具备分组交换功能的数据终端设备接入到分组交换网的设备。 （GJB 700-89 军用通信系统术语）
·检验批：	按适用的电子元器件可靠笥规范的规定，一次提交检验的一组电子元器件。 （GJB 546-88 电子元器件可靠性保证大纲）
·检验批：	按相应产品规范的规定进行组合并同时提交检验的一组电子元器件。 （GJB 546A-96 电子元器件质量保证大纲）
·有规定寿命期限元器件引起的失效：	有规定寿命期限的元器件，工作时间超过了其规定的更换期限而未更换所引起的失效。 （GJB 16-84 地面炮瞄雷达可靠性试验方法）
·组合板：	一种完全压制好的多层印制板。 （GJB 362-87 印制板通用规范）
·热阻(结到规定参考点：	结至封装壳体上参考点的温差与功耗(P D )之比。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·组合逻辑：	组合(确定型)逻辑器件指这样一类器件，其输出仅取决于器件输入端的逻辑信号，不考虑开关延迟。 组合逻辑器件不包含存储单元，只包括门电路、解码器和多路调制器。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·组合逻辑：	组合(确定型)逻辑器件指这样一类器件，其输出仅取决于器件输入端的逻辑信号，不考虑开关延迟。 组合逻辑器件不包含存储单元，只包括门电路、解码器和多路调制器。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·逻辑(组合、时序)：	组合数字逻辑电路仅由不含存储器的部件组成，而且电路中没有反馈路径。时序数字逻辑电路至少 有一个部件含有存储器，或至少有一条反馈路径，或两者都有。例如，一个触发器就含有一个存储器， 交叉耦合逻辑门引入了反馈路径。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）