| 置信水平： | 产品的真实失效率等于被定等级的最大失效率时，产品被判定为不合格的概率。 |
| 失效率： | 产品标准规定的额定条件下的失效率。 |
| 失效率等级： | 在规定置信水平下的最大失效率。通常以每试验1000h的失效百分数来表示(％/1000h)。
本标准规定的失效率等级为L(当规定时)，M(1)，P(0.1)，R(0.01)，S(0.001)。 |
| 失效率试验： | 为确定产品的失效率等级而进行的寿命试验。 |
| 较高失效率等级： | 描述单位时间内失效数较少的失效率等级。 |
| 较低失效率等级： | 描述单位时间内失效数较多的失效率等级。 |
| 检验批： | 按产品规范的规定进行组合并同时提交检验的一组电子元件。 |
| 真实失效率： | 当某一受控加工程序中的所有产品，都实际进行试验时所测得的失效率。“受控加工程
序”是指其失效率相对平均值的变化是由于偶然原因产生的一种加工程序。 |
| 截止： | 寿命试验数据的截止点，它在时间上规定了一个精确的点。在该截止点，承制方在下列两
种情况下，可以停止使用以前的升级寿命试验数据。
a. 在寿命试验中产生了失效，承制方已经确定了失效的原因，并执行了鉴定机构可以接
受的纠正措施。
b. 在寿命试验失败或多次失败之后，在新的设计改进的基础上，承制方在寻求失效率的
升级；
截止点不是一个随机事件，这是在“老”的不太可靠和“新”的设计改进之间必然存在的一
种差异(见5.5)。 |