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较低失效率等级

标准号:GJB 2649-96   标准名称:军用电子元件失效率抽样方案和程序       1996-06-04

基本信息

【名称】 较低失效率等级
【英文名称】 lower failure rate level
【定义】 描述单位时间内失效数较多的失效率等级。

同源术语

·置信水平产品的真实失效率等于被定等级的最大失效率时,产品被判定为不合格的概率。
·失效率产品标准规定的额定条件下的失效率。
·失效率等级在规定置信水平下的最大失效率。通常以每试验1000h的失效百分数来表示(%/1000h)。 本标准规定的失效率等级为L(当规定时),M(1),P(0.1),R(0.01),S(0.001)。
·失效率试验为确定产品的失效率等级而进行的寿命试验。
·较高失效率等级描述单位时间内失效数较少的失效率等级。
·检验批按产品规范的规定进行组合并同时提交检验的一组电子元件。
·真实失效率当某一受控加工程序中的所有产品,都实际进行试验时所测得的失效率。“受控加工程 序”是指其失效率相对平均值的变化是由于偶然原因产生的一种加工程序。
·截止寿命试验数据的截止点,它在时间上规定了一个精确的点。在该截止点,承制方在下列两 种情况下,可以停止使用以前的升级寿命试验数据。 a. 在寿命试验中产生了失效,承制方已经确定了失效的原因,并执行了鉴定机构可以接 受的纠正措施。 b. 在寿命试验失败或多次失败之后,在新的设计改进的基础上,承制方在寻求失效率的 升级; 截止点不是一个随机事件,这是在“老”的不太可靠和“新”的设计改进之间必然存在的一 种差异(见5.5)。

相关术语

·描述符元素描述功能内容、格式、缺省条件、标识和元文卷特性的元文卷元素。
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·图片描述符一组用来为整个图片设置属性元素解释模式的元文卷元素。
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