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失效率试验

标准号:GJB 2649-96   标准名称:军用电子元件失效率抽样方案和程序       1996-06-04

基本信息

【名称】 失效率试验
【英文名称】 failure rate test
【定义】 为确定产品的失效率等级而进行的寿命试验。

同源术语

·置信水平产品的真实失效率等于被定等级的最大失效率时,产品被判定为不合格的概率。
·失效率产品标准规定的额定条件下的失效率。
·失效率等级在规定置信水平下的最大失效率。通常以每试验1000h的失效百分数来表示(%/1000h)。 本标准规定的失效率等级为L(当规定时),M(1),P(0.1),R(0.01),S(0.001)。
·较高失效率等级描述单位时间内失效数较少的失效率等级。
·较低失效率等级描述单位时间内失效数较多的失效率等级。
·检验批按产品规范的规定进行组合并同时提交检验的一组电子元件。
·真实失效率当某一受控加工程序中的所有产品,都实际进行试验时所测得的失效率。“受控加工程 序”是指其失效率相对平均值的变化是由于偶然原因产生的一种加工程序。
·截止寿命试验数据的截止点,它在时间上规定了一个精确的点。在该截止点,承制方在下列两 种情况下,可以停止使用以前的升级寿命试验数据。 a. 在寿命试验中产生了失效,承制方已经确定了失效的原因,并执行了鉴定机构可以接 受的纠正措施。 b. 在寿命试验失败或多次失败之后,在新的设计改进的基础上,承制方在寻求失效率的 升级; 截止点不是一个随机事件,这是在“老”的不太可靠和“新”的设计改进之间必然存在的一 种差异(见5.5)。

相关术语

·药简射击寿命试验考核药筒能经受的射击次数的试验。
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·单位产品为了实施检验,确定合格品、不合格品或计算缺陷数,将被检验的对象划分为基本单位,称 为单位产品。它可以是单件产品、一对产品、一组产品、一件成品的部件,或是一定长度、一定 面积、一定体积、一定重量的产品。它与采购、销售、生产或运输的单位产品可以一致,也可以 不一致。
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·确定的测试算法指加在逻辑器件或逻辑单元上,具有已知故障覆盖率或测试效率的一种算法、程序、或一个测试向 量序列。这里的故障覆盖率或检测效率指采用确定的测试算法得到的故障覆盖率或得到的检测效率。例 如,用于随机存储器(RAM)的一个确定的测试算法可以是公开发表的存储测试算法(如 GALPAT)。试 验证明它基本上可以测试出 RAM 所有的故障,因此被评定为具有 100%的测试效率。对 ALU,可以采 用一个经预先计算的、其故障覆盖率已被预先确定的测试向量序列来测试。对不同的逻辑器件或逻辑单 元,存在不止一个确定的测试算法,每一个都分别有确定的故障覆盖率或确定的检测效率。
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