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可筛选缺陷
标准号:
GJB 3233-98
标准名称:半导体集成电路失效分析程序和和方法
1998-03-16
基本信息
【名称】
可筛选缺陷
【英文名称】
screenable defects
【定义】
利用有效的筛选方法可以剔除的缺陷。
同源术语
·
缺陷
:
在外形、装配、功能或工艺质量等方面与详细技术规范规定的任何不一致现象。
·
批次性缺陷
:
在设计、制造过程中造成的缺陷并且在同批次器件中多次重复出现(例如:金属化层厚度、 键合强度、绝缘材料性能、金属化布线、键合引线之间以及键合引线与芯片边沿之间的间距不 当或掩模缺陷等)。
·
失效模式
:
器件失效的表现形式。
·
失效机理
:
导致器件失效的物理、化学变化过程。
·
失效原因
:
导致失效发生的直接因素,它包括设计、制造、使用和管理等方面的问题。
·
失效分析
:
为确定和分析失效器件的失效模式、失效机理、失效原因和失效性质而对失效样品所做的 分析与检查。
相关术语
·
利用系数
:
小型机系统的有效工作时间与有效工作时间和维修时间之和的比称做利用系数
(
GJB 322-87
军用小型数字电子计算机通用技术条件)
·
最小假设初始缺陷尺寸
:
为用于分析结构剩余强度和裂纹增长特性而假设的初始最小缺陷。
(
GJB 540.10-88
飞航导弹强度和刚度规范地面试验)
·
初始缺陷
:
初始缺陷是认为导弹在交付使用之前结构就带有的预存缺陷(如孔边角裂纹,孔边穿透裂纹等)。
(
GJB 540.10-88
飞航导弹强度和刚度规范地面试验)
·
缺陷分析
:
通过检查技术及管理(非技术的)数据,确定造成电气、机械及物理特性超出规定界限的原因。
(
GJB 546-88
电子元器件可靠性保证大纲)
·
磁带缺陷
:
指磁带磁层的空洞,表面粘附氧化物或裁带碎屑、磨损产物、外界颗粒状物质,以及裁带宽 度超差。带基材料压光不当等。
(
GJB 727-89
遥测系统术语)
·
牺牲阳极利用系数
:
牺牲阳极消耗到不能提供被保护结构所必须的电流时,阳极消耗量与阳极原质量的比。
(
GJB 157-86
水面舰船牺牲阳极保护设计和安装)
·
牺牲阳极利用系数
:
牺牲阳极消耗到不能使被保护结构维持最小保护电位时,阳极消耗的重量与原重量之比。
(
GJB 157A-2008
水面舰船牺牲阳极保护设计和安装)
·
功率利用特性
:
发动机功率利用系数与地面总阻力系数的关系。
(
GJB 742-89
装甲车辆术语、符号)
·
装药利用系数
:
膛口动能与装药量的比值
(
GJB 371-87
弹道学术语及符号)
·
氧化层缺陷
:
氧化层中由边缘处两条或三条彩色条纹所表征的不规则形状缺陷。
(
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序)