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非定态集成电路

标准号:GJB 762.3-89   标准名称:半导体器件辐射加固试验方法γ瞬时辐照试验       1989-08-24

基本信息

【名称】 非定态集成电路
【英文名称】 Non-determined integrated circuit
【定义】 输出不是输入的唯一函数的集成电路(如触发器、移位寄存器等)。

同源术语

·剂量率响应在给定剂量率的辐射脉冲作用下,处于工作状态的半导体器件电参数的瞬态变化称为剂 量率响应。
·初始光电流由于电离辐射在P—N结附近产生大量的电子——空穴对,过量的电荷载流子穿过P—N 结而构成的电流称为初始光电流。
·稳态初始光电流辐射脉冲宽度最低限度必须超过半导体器件少数载流子寿命的一倍所产生的初始光电 流。
·非稳态初始光电流辐射脉冲的宽度不超过半导体器件少数载流子寿命的一倍所产生的初始光电流。
·辐射引起的闭锁深闭锁:深闭锁是一种持续性(或大于100μs)的功能失效,如果在这期间器件尚未烧毁,可 通过切断偏置电源,中止其错误的工作状态。 初始闭锁:初始闭锁是一种非持续性(小于100μs)的功能失效。
·定态集成电路输出是输入的唯一函数,而且只有当输入变化时,输出才变化的电路(如“与”、“或”门等)。
·翻转的剂量率阈值引起工作的数字集成电路的瞬态输出电压大于规定的最大低电平(对低电平输出状态)、 或小于规定的最小高电平(对高电平输出状态)、或引起任一存贮数据变化的剂量率称为该数 字集成电路翻转的剂量率阈值。
·辐射脉冲有效宽度(teff)辐射脉冲波形的面积与峰值高度之比。

相关术语

·输出表示火工品作用时释放能量的形式及大小的特征量。用与完成规定功能相关的可测量参 数表示,如铅板炸孔直径、钢块凹痕深度、燃烧气体的压力等。
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·输出装药火工品装药中产生最终输出效应,用于完成规定功能的装药。
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·雷管输出隔板试验改变置于雷管和标准猛炸药柱之间的隔板的厚度,测定雷管能使标准猛炸药柱爆炸概率 为50%的隔板厚度,根据这一厚度评定雷管轴向冲击波输出的试验。
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·射频输出功率由发射机供给天线传输线的功率。
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·输出谐波抑制度发射机输出射频频谱中,高次谐波相对于基波的衰减程度。
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·输出转矩驱动电动机转轴上所产生的力矩。
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·短波长输出均匀性由于氧化物涂层不均匀引起高频重放信号不均匀性的一种度量。
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·输出端电源设备上连接输出电缆的端子。
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·初始输入、初始输出逻辑模型的初始输入指由 ATE 驱动器直接驱动的 DUT 逻辑线,因此它是直接可控制的测试点。逻 辑模型的初始输出指 ATE 比较器可直接测试的逻辑线,因此它是可直接观察的测试点。对 DUT 逻辑模 型,主模型的输入就是初始输入,主模型的输出就是初始输出。能通过特定测试模式驱动和测量的内部 节点称为控制或观察测试点。
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·输出轴(OA)陀螺仪、加速度计中装有传感器的自由度轴。传感器的输出信号是输出角的函数。
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