基本信息

同源术语

·电子平衡：	用γ射线或X射线辐照材料时，光子在材料中产生次级电子。如果进入材料中一个体积 元的给定能量次级电子数等于离开该体积元的相同能量次级电子数，则该体积元处于电子平 衡状态。
·平衡吸收剂量：	处于电子平衡状态的-个体积元中物质的吸收剂量。
·热释光磷光物质：	辐照时将吸收能量的一部分贮存在其激发能级上，而受到热激发时以磷光的形式释放其 贮存能量的物质。
·热释光剂量计：	利用热释光磷光物质发射磷光的强度确定吸收剂量的剂量计，简称TLD。
·TLD读出仪：	用于测量TLD热释光强度的仪器，由加热装置、测光装置和有关的电子学部件等组成。
·TLD退火：	辐照前对TLD进行的热处理,用以清除TLD的残余热释光信号。
·TLD预处理：	辐照前对TLD进行的退火、封装等准备工作。

相关术语

·电热响应试验：	测定电火工品在单脉冲电流作用下的电桥温度随时间的变化，预估该电火工品发火水平 的一种非破坏性检验。 （GJB 551-88 火工品术语）
·加热试验：	测定火工品药剂在规定高温下恒温规定时间后的质量损失，根据质量损失百分数评定其 安定性的试验。 （GJB 551-88 火工品术语）
·频率响应特性：	系统在不同频率正弦输入作用下的稳态输出特性，是一个与系统参数及输入信号频率有 关的复变函数。 （GJB 727-89 遥测系统术语）
·波长响应：	磁带记录和重放的特性之一，它取决于磁层的配方、涂层厚度及其他磁带物理参数。它是 记录在磁带上的波长(带速除以信号频率)的函数，而不是实际记录频率的函数。 （GJB 21.4A-92 遥测标准计测磁带）
·热响应时间(tJR)：	结温变化达到最终值 90%所需要的时间，结温变化是在器件参考点温度保持不变的情况下，由于 功耗的阶跃变化造成的。为了与测量结温的特定方式相一致，热响应时间也分为 t JR(峰值) 、t JR(平均) 、t JR(区域) 。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·剂量率响应：	在给定剂量率的辐射脉冲作用下，处于工作状态的线性微电路的参数瞬态变化。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·波长响应：	磁带的记录重放特性。与磁层的配方、厚度及磁带的其他物理参数有关。它是磁带记录 波长的函数，而不是实际记录频率的函数。 （GJB 727A-98 航天测控系统术语与缩略语）
·冲击响应谱：	将受到冲击作用的一系列线性单自由度系统的最大响应(位移、速度、加速度等)表示为这 些系统固有频率的函数。 （GJB 727A-98 航天测控系统术语与缩略语）
·光谱响应：	单色灵敏度随波长变化的关系。 （GJB 743-89 军用光学仪器术语、符号）
·光谱响应峰值波长：	单色灵敏度最大值所对应的波长。 （GJB 743-89 军用光学仪器术语、符号）