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基本信息

GJB 2165-94
应用热释光剂量测量系统确定电子器件吸收剂量的方法
Methods for the application of thermoluminescence dosimetry systems for determining absorbed dose of electronic devices
1994-12-13
1995-07-01
有效
巴维真;杨首江;任俊杰;严荣良;
中国科学院新疆物理研究所
中国科学院
国防科学技术工业委员会
吸收剂量;电子器件;辐射试验;γ射线;系统的
【范围】 1.1 主题内容 本标准规定了应用热释光剂量测量系统确定电子器件材料中吸收剂量的方法和程序。 1.2 适用范围 本标准适用于确定电子器件材料在γ 射线、X射线和电子束辐照试验中的吸收剂量。吸收剂量范围为1×10-2 至1×104Gy(Si)。
【与前一版的变化】

包含术语

电子平衡用γ射线或X射线辐照材料时,光子在材料中产生次级电子。如果进入材料中一个体积 元的给定能量次级电子数等于离开该体积元的相同能量次级电子数,则该体积元处于电子平 衡状态。
平衡吸收剂量处于电子平衡状态的-个体积元中物质的吸收剂量。
热释光磷光物质辐照时将吸收能量的一部分贮存在其激发能级上,而受到热激发时以磷光的形式释放其 贮存能量的物质。
热释光剂量计利用热释光磷光物质发射磷光的强度确定吸收剂量的剂量计,简称TLD。
TLD读出仪用于测量TLD热释光强度的仪器,由加热装置、测光装置和有关的电子学部件等组成。
TLD响应读出仪加热TLD时测到的热释光信号。
TLD退火辐照前对TLD进行的热处理,用以清除TLD的残余热释光信号。
TLD预处理辐照前对TLD进行的退火、封装等准备工作。

引用文件/被引文件

核科学技术术语
辐射防护规定
半导体器件辐射加固试验方法 γ总剂量辐照试验
半导体器件辐射加固试验方法 γ瞬时辐照试验

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包含图表

TLD)磷光物质吸收剂量
TLD)磷光物质吸收剂量
TLD)磷光物质吸收剂量
TLD壁材料衰减修正因
壁物质吸收剂量
壁物质吸收剂量
壁物质吸收剂量
电子器件材料的平衡吸
电子器件材料的平衡吸
电子器件材料(如,硅)
参数
n值
样品量
第i种成分的质量能量
i第i种成分的质量碰撞
有关物质对光子的质量
有关物质对光子的质量
有关物质对电子的质量
有关物质相对于硅的质
有关物质相对于硅的质
辐射场校准时的初始剂
电子束在铝中的实际射
10Mev电子束在铝中的
随机不确定度的估计
系统不确定度的估计
总不确定度

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