| ·非开发产品： | 是一种含义广泛的通用术语，只需要很少或者不需要再研制而直接获得的产品，例如商
品。
（GJB 151A-97 军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求） |
| ·产品设计失效： | 由于产品设计的原因而造成的失效。
（GJB 16-84 地面炮瞄雷达可靠性试验方法） |
| ·产品制造失效： | 由于在试验前的制造、试验或维修期间工艺质量差而引起的失效。它包括产品在装配过
程中部件可能承受的过应力。
（GJB 16-84 地面炮瞄雷达可靠性试验方法） |
| ·向“产品”加注： | 泵车将本车液罐和槽车的液罐的推进剂加注到“产品”贮箱内的作业过程。
（GJB 576-88 加注车通用技术条件） |
| ·单位产品： | 为了实施检验，确定合格品、不合格品或计算缺陷数，将被检验的对象划分为基本单位，称
为单位产品。它可以是单件产品、一对产品、一组产品、一件成品的部件，或是一定长度、一定
面积、一定体积、一定重量的产品。它与采购、销售、生产或运输的单位产品可以一致，也可以
不一致。
（GJB 367.4-87 军用通信设备通用技术条件验收规则） |
| ·确定的测试算法： | 指加在逻辑器件或逻辑单元上，具有已知故障覆盖率或测试效率的一种算法、程序、或一个测试向
量序列。这里的故障覆盖率或检测效率指采用确定的测试算法得到的故障覆盖率或得到的检测效率。例
如，用于随机存储器(RAM)的一个确定的测试算法可以是公开发表的存储测试算法(如 GALPAT)。试
验证明它基本上可以测试出 RAM 所有的故障，因此被评定为具有 100%的测试效率。对 ALU，可以采
用一个经预先计算的、其故障覆盖率已被预先确定的测试向量序列来测试。对不同的逻辑器件或逻辑单
元，存在不止一个确定的测试算法，每一个都分别有确定的故障覆盖率或确定的检测效率。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·测量不确定度： | 用标准偏差、标准偏差的倍数或置信区间表示的被测量的值相对于测量值的分散度。
（GJB 727A-98 航天测控系统术语与缩略语） |
| ·单位产品： | 为了实施抽样检查，而将被检查的对象划分的基本单位。它可以是单件产品、一对产品、一组产品、一件成品的部件、或是一定长度、一定面积、一定体积、一定重量的产品等等。它与采购、销售、生产和运输规定的单位产品可以一致，也可以不一致。
（GJB 179-86 计数抽样检查程序及表） |
| ·每百单位产品缺陷数： | 缺陷总数除以被检查单位产品总数，再乘以100，即
（GJB 179-86 计数抽样检查程序及表） |
| ·产品： | 指设计文件中所表示的任何零件、部件、组件、系统或其它装置。
（GJB 190-86 特性分类） |