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引入缺陷密度观察值步骤3 将计算得的缺陷密度观测值与表2 9中的值比较,如果观测值D0超出控制上限,则表明,实际筛选析出量比估计值还要多,超出估计值说明此估计值不准确,远远小于实际引入缺陷密度,必须采取措施减少引入缺陷密度DIN。若筛选检出度达到理想状态,即TS=1,析r
标准号：
GJB/Z 34-93
标准名称：电子产品定量环境应力筛选指南
1993-09-30
同源图形
公式（1）DE——检测
公式（1）
公式（2） 温度循环筛
公式（3）故障率
公式（4）恒定温度筛
公式（5）
随机振动强度
公式（7）
公式（8）
公式（9）
公式（10）
元器件缺陷率
公式（11）
公式（12）
公式（13）
公式（13）
半导体集成电路失效模
失效率
现场缺陷率
现场缺陷率
公式（17）集成电路缺
缺陷率
缺陷率
缺陷密度
筛选成品率
等效振动时间
缺陷概率
公式（25）
公式（30）
公式（31）
公式（32）
公式（33）
公式（B-1）
公式（B-2）
公式（B-3）关系模型
公式（B-4）B 3.2 残
公式（B-5）
公式（B-6）环境应力
公式（B-7）
公式（B-8）
公式（B-9）
公式（B-10）
公式（B-11）
公式（B-12）
公式（B-13）
公式（B-14）
公式（B-14）
公式（B-15）
公式（B-16）
公式（B-17）
公式（B-18）
公式（B-19）
好元器件故障率
公式（B-20）
公式（B-21）
公式（B-22）
公式（B-23）
公式（B-24）
公式（B-25）
公式（B-26）
公式（B-27）
公式（B-28）
公式（B-29）
公式（C-1）
公式（C-2）
公式（C-3）
公式（C-4）
成品率
公式（D-1）
公式（D-2）
公式（D-3）
公式（D-4）
公式（D-4）
举例
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