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贮存期的确定应用

标准号:GJB 548B-2005   标准名称:微电子器件试验方法和程序       2005-10-02

同源图形

试验条件
试验条件
试验条件
稳态寿命试验的时间-
稳态寿命试验的时间-
试验条件
试验条件
稳定性烘焙(试验条件
稳定性烘焙(试验条件
试验条件
温度循环试验条件
过碳氟化合物液体的物
热冲击的温度及容差和
碳氟化合物液体的物理
试验条件 A1的固定条
失效判据
同位素细检漏方法的试
试验条件 C1加压条件
老炼试验的时间-温度
试验条件
试验条件
海拔高度与水汽温度的
焊料槽中杂质含量的最
可焊性评价准则
试验条件
试验条件
GaAs 微波器件要求的
拉力试验的新值
最小键合强度
最小键合强度
GJB 128 中适用方法检
各种结构金属化层反应
样品检查步骤
196m/s2加速度时试验
引线与钩子的对应关系
非破坏性键合拉力
不同标准偏移的 n 值
与设计封口面积对应的
试验条件 1 的值a
试验条件 2 的值a
模拟器充电电压(VS)档
试验引线的组合a、b
器件的 ESD 失效阈值
S 级和 B 级筛选S 级
S 级和 B 级筛选
S 级和 B 级筛选
S 级和 B 级 A 组电测
S 级器件 B 组试验a
S 级器件 B 组试验a
B 级 B 组试验a
C 组检验(仅对 B 级)
D 组检验(对 B 级和 S
D 组检验(对 B 级和 S
E 组(辐射强度保证试
E 组(辐射强度保证试
极限试验样本大小
循环试验
温度循环试验
机械冲击试验
恒定加速度试验
晶圆批验收试验
晶圆批验收试验
样本选择
检验或试验
检验或试验
元件评价摘要
封装评价要求
封装评价要求
测试结构
器件筛选
器件筛选
质量-致性试验
A 组电测试a
A 组电测试a
B 组试验
C 组试验
D 组试验
E 组(辐射加固试验)a
PM 中至少应包括的测
工艺检测点
PM 评估
晶圆批验收要求
聚合材料认证和验收试
聚合材料认证和验收试
离子杂质含量要求
采用基本 K 次多项式
故障等效类型中的典型
采用故障模拟程序 2
采用故障仿真程序 3
采用故障仿真程序 3
用于 PM 中的测试图形

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指导性技术文件模线设
球面三角在模线设计中
HB/Z 13-89
指导性技术文件模线设
球面三角在模线设计中
HB/Z 13-89
指导性技术文件模线设
球面三角在模线设计中
HB/Z 13-89
指导性技术文件模线设
球面三角在模线设计中
HB/Z 13-89
指导性技术文件模线设