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由缓冲放大器等组成的测量系统原理图
标准号:
GJB 1927-94
标准名称:砷化镓单晶材料测试方法
1994-09-12
同源图形
霍尔效应示意图
电阻率、迁移率测量原
桥形样品和六面体样品
LEC单晶晶片取样示意
样品在晶片中的位置
热处理样品在热处理炉
测量接线图(a)和测量
f因子
桥形样品
范德堡样品
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环状传感器修正系统数
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辐射系统校准
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采用平行板辐射系统典
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采用平行板辐射系统典
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