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热处理样品在热处理炉中的位
标准号：
GJB 1927-94
标准名称：砷化镓单晶材料测试方法
1994-09-12
同源图形
霍尔效应示意图
电阻率、迁移率测量原
由缓冲放大器等组成的
桥形样品和六面体样品
LEC单晶晶片取样示意
样品在晶片中的位置
测量接线图(a)和测量
f因子
桥形样品
范德堡样品
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