同源图形

环境分类	半导体集成电路的工作	环境系数Eπ
半导体集成电路质量等	成熟系数Lπ	Tπ 表号汇总
半导体集成电路管壳温	结到管壳的热阻(C/W)	半导体集成电路结温的
密封的 TTL、HTTL、HT	密封的 STTL 电路、非	密封的 LSTTL、PMOS、
非密封的 CMOS 及 CMO	非密封的 PMOS、NMOS	密封的 CMOS 及 CMOS/
密封的双极及 MOS 型	非密封的双极及 MOS	电压应力系数研Vπ
CMOS 电路的Vπ	PROM 电路的可编程序	单片双极型数字电路的
单片 MOS 数字电路的	双极与 MOS 型模拟电	双极型随机存取存储器
MOS 及 CCD 随机存取	双极型 ROM 及 PROM	MOS 型 ROM 及 PROM
封装复杂度失效率 C3(	半导体集成电路失效形	环境系数Eπ
混合集成电路质量等级	温度应力系数Tπ	电路功能系数Fπ
网络复杂度失效率Cλ (	厚膜与薄膜电阻的混合	混合集成电路外接元器
混合集成电路外接元器	工艺封装失效率SFλ (1	混合电路失效形式分布
环境系数Eπ	质量等级及质量系数π	半导体分立器件的分类
半导体分立器件的基本	半导体分立器件质量等	环境系数Eπ
质量系数π	应用系数Aπ	额定功率系数Rπ
电压应力系数S2π	种类系数Cπ	失效形式分布
硅 NPN 晶体管基本失	硅 PNP 晶体管基本失	锗 PNP 晶体管基本失
锗 NPN 晶体管基本失	环境系数Eπ	质量系数Qπ
应用系数Aπ	种类系数Cπ	硅场效应晶体管的失效
场效应晶体管基本失效	环境系数Eπ	质量系数Qπ
失效形式分布	单结晶体管基本失效率	环境系数Eπ
2 质量系数Qπ	额定电流系数Rπ	失效形式分布
闸流晶体管基本失效率	环境系数Eπ	质量系数
额定电流系数	电压应力系数	应用系数
结构系数	失效形式分布	普通硅二极管基本失效
普通锗二极管基本失效	环境系数Eπ	质量系数Qπ
应用系数Aπ	失效形式分布	电压调整及电压基准二
环境系数Eπ	质量系数Qπ	失效形式分布
微波硅检波二极管基本	微波锗检波二极管基本	微波硅混频二极管基本
微波锗混频二极管基本	环境系数Eπ	质量系数Qπ
功率额定值系数Rπ	应用系数Aπ	失效形式分布
变容、阶跃、隧道、体	环境系数Eπ	温度应力系数Tπ
种类系数Cπ种类系数Cπ

相关图形

无引线分立元器件连接 HB 6207-89 航空用印制线路设计	分类 GJB 3018-97 空间技术用微波介质陶	冗余技术分类 GJB/Z 99-97 系统安全工程手册
试验方法按实验性质分 GJB 715-90 紧固件试验方法	试验方法按实验性质分 GJB 715-90 紧固件试验方法	型材桁条的缺口分类 HB 0-23-74 型材桁条的缺口分类
型材桁条的缺口分类 HB 0-23-74 型材桁条的缺口分类	带耳片螺旋式定位器件 HB 599-89 带耳片螺旋式定位器	型材桁条的缺口分类 HB 0-23-83 型材桁条的缺口分类
型材桁条的缺口分类 HB 0-23-83 型材桁条的缺口分类