用户名:
密码:
登 录
个人中心
系统维护
用户注册
联系我们
当前位置 >
首页
> 公式、表格、符号、图形细览
结到管壳的热阻(C/W)的参考值
标准号:
GJB/Z 299A-91
标准名称:电子设备可靠性预计手册
1991-12-23
同源图形
环境分类
半导体集成电路的工作
环境系数Eπ
半导体集成电路质量等
成熟系数Lπ
Tπ 表号汇总
半导体集成电路管壳温
半导体集成电路结温的
密封的 TTL、HTTL、HT
密封的 STTL 电路、非
密封的 LSTTL、PMOS、
非密封的 CMOS 及 CMO
非密封的 PMOS、NMOS
密封的 CMOS 及 CMOS/
密封的双极及 MOS 型
非密封的双极及 MOS
电压应力系数研Vπ
CMOS 电路的Vπ
PROM 电路的可编程序
单片双极型数字电路的
单片 MOS 数字电路的
双极与 MOS 型模拟电
双极型随机存取存储器
MOS 及 CCD 随机存取
双极型 ROM 及 PROM
MOS 型 ROM 及 PROM
封装复杂度失效率 C3(
半导体集成电路失效形
环境系数Eπ
混合集成电路质量等级
温度应力系数Tπ
电路功能系数Fπ
网络复杂度失效率Cλ (
厚膜与薄膜电阻的混合
混合集成电路外接元器
混合集成电路外接元器
工艺封装失效率SFλ (1
混合电路失效形式分布
环境系数Eπ
质量等级及质量系数π
半导体分立器件的分类
半导体分立器件的分类
半导体分立器件的基本
半导体分立器件质量等
环境系数Eπ
质量系数π
应用系数Aπ
额定功率系数Rπ
电压应力系数S2π
种类系数Cπ
失效形式分布
硅 NPN 晶体管基本失
硅 PNP 晶体管基本失
锗 PNP 晶体管基本失
锗 NPN 晶体管基本失
环境系数Eπ
质量系数Qπ
应用系数Aπ
种类系数Cπ
硅场效应晶体管的失效
场效应晶体管基本失效
环境系数Eπ
质量系数Qπ
失效形式分布
单结晶体管基本失效率
环境系数Eπ
2 质量系数Qπ
额定电流系数Rπ
失效形式分布
闸流晶体管基本失效率
环境系数Eπ
质量系数
额定电流系数
电压应力系数
应用系数
结构系数
失效形式分布
普通硅二极管基本失效
普通锗二极管基本失效
环境系数Eπ
质量系数Qπ
应用系数Aπ
失效形式分布
电压调整及电压基准二
环境系数Eπ
质量系数Qπ
失效形式分布
微波硅检波二极管基本
微波锗检波二极管基本
微波硅混频二极管基本
微波锗混频二极管基本
环境系数Eπ
质量系数Qπ
功率额定值系数Rπ
应用系数Aπ
失效形式分布
变容、阶跃、隧道、体
环境系数Eπ
温度应力系数Tπ
种类系数Cπ种类系数Cπ
相关图形
参考件
HB 2-58-94
埋头销钉
参考件
HB 2-58-94
埋头销钉
图 8 参考文献格式
GJB 0.3-2001
军用标准文件编制工作
采用公用线法,并将参
GJB 1033-90
卫星热平衡试验方法
参考点设在真空室内
GJB 1033-90
卫星热平衡试验方法
采用公用线法,并将参
GJB 1033A-2005
航天器热平衡试验方法
在真空室内设参考点
GJB 1033A-2005
航天器热平衡试验方法
Ⅱ号参考试块
GJB 1038.1-90
纤维增强塑料无损检验
IV号参考试块
GJB 1038.1-90
纤维增强塑料无损检验
VI号参考试块
GJB 1038.1-90
纤维增强塑料无损检验