基本信息

同源缩略语

·ATE：	自动试验设备
·BIST：	反向不稳定性冲击试验
·DPA：	破坏性物理分析
·DUT：	受试器件
·ESD：	静电放电
·ESDS：	静电放电敏感度
·FET：	场效应晶体管
·FIST：	正向不稳定性冲击试验
·FWHM：	脉冲幅值的一半所对应的宽度
·IF：	中频
·IGBT：	绝缘栅双极型晶体管
·LCC：	无引线片式载体
·LINAC：	直线加速
·MOSFET：	金属氧化物半导体场效应晶体管
·PIND：	粒子碰撞噪声检测.