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二次离子质谱术

标准号:GJB 1927-94   标准名称:砷化镓单晶材料测试方法       1994-09-12

基本信息

【名称】 二次离子质谱术
【英文名称】 secondary ion mass spectroscopy(SIMS)
【定义】 用质谱仪测量靶受粒子(离子或中性粒子)轰击所发射的二次离子的质荷比的一种技术。

同源术语

·半绝缘介于绝缘体与半导体之间的导电能力的描述,通常认为半绝缘体的电阻率大于10 6 cm。
·电阻率即电阻系数,系材料固有性质,由材料中沿电流方向的电位梯度与电流密度之比决定。温 度的变化能引起电阻率的变化,尤其是对半绝缘材料,其对温度的依赖关系为: T ρ ∞exp(AE/ kT), T ρ 表示绝对温度T下的电阻率,k为玻尔兹曼常数,AE为表观激活能,仲裁时应取AE= 0.75eV。
·霍尔系数在样品上施以相互垂直的电场和磁场,则带电载流子将向第三个相互垂直的方向偏转,在 样品上就会出现一个横向电势差,即为霍尔电压,如图1所示,霍尔系数就是横向电场与电流 密度和磁通密度的乘积之比,即:

B z ——磁通密度(z方向),T。 主要靠电子导电的n型半导体材料霍尔系数是负的,而主要靠空穴导电的p型半导体材 料霍尔系数是正的。但半绝缘材料导电类型不能简单从霍尔系数的正负来判断,测量只给出表 观值。一般半绝缘砷化镓的R H 为负,其结果应进行双载流子导电分析。
·霍尔迁移率霍尔迁移率由式(2)通过霍尔系数和电阻率计算得出,主要由晶格振动及电离杂质散射等 因素所决定。式(3)给出霍尔迁移率与漂移迁移率之间的关系,其中r为由散射机构、能带结 构、杂质浓度、温度等决定的散射因子。
·载流子导体或半导体的导电作用是通过带电粒子的运动来实现的,这种电荷的载体称为载流子。 半导体中的载流子是带负电的电子和带正电的空穴。
·欧姆接触金属与半导体之间没有整流作用的接触称为欧姆接触。
·平均值表示测量参数的集中趋势的测度,对于n个被测样品,被测参数x i ,其平均值为:
·标准差描述所测参数离散程度的统计量,反应数据波动的大小。
·相对标准偏差标准差与平均数的比值,无量纲。反映相对波动的大小。
·热稳定性热处理前后材料电参数的相对变化量。
·表面电阻用来表征半导体材料表面薄层导电状况,在数值上它等于一正方形两对边间所加电压和 通过电流之比。对环形电极样品,表面电阻 ρ 符合下面关系。

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