| ·空间分辨率： | 工业 CT 系统鉴别和区分微小细节特征的能力。 |
| ·密度分辨率： | 对比灵敏度 contrast sensitivity
工业 CT 系统区分材料密度(或线性衰减系数)特性变化的能力。 |
| ·伪象： | 在 CT 图象上出现的与试件的结构及物理特性无关的图象特征。 |
| ·标准试件： | 用来确定工业 CT 系统空间分辨率及密度分辨率等性能指标的试件。 |
| ·探测器： | 将射线信号转换为电信号的装置。 |
| ·射束硬化： | 在使用非单能射线源时，射线穿透试件的过程中平均能量逐渐提高的现象。 |
| ·射束宽度： | 在被检测物体的特定位置，垂直射线的方向上，射线源发出的被单个探测器接收的射束的有效宽度。
射束宽度与焦点尺寸、探测器尺寸以及射线源、探测器、试件的相对位置有关。 |
| ·投影： | 材料的线性衰减系数分布函数沿着射线方向上的线积分。 |
| ·采样点数： | 重建-幅 CT 图象所用到的采样点总数。 |
| ·线扩展函数： | 理想的线状物质在重建图象(密度图象)上的响应或扩展函数。 |
| ·边缘响应函数： | 理想的两种物质的边界在重建图象(密度图象)上的响应函数。 |
| ·调制度： | 图象系统对特定空间频率响应能力的度量。在 CT 图象上，它近似等于细节特征有效对比度( μ)
e
和实际对比度 μ 的比值。有效对比度( μ)
e
是细节特征和背景的显示对比度；实际对比度 μ 是细节和
背景的真实对比度。 |
| ·调制传递函数： | 图象系统的调制度随空间频率的变化关系。它在数值上等于线扩展函数的一维傅立叶变换。 |
| ·CDD 曲线： | 在 50%的检测概率下，将直径为 D、间隔为 2D 的细节特征区分开所需要的实际对比度与细节特征
直径之间的关系曲线。 |
| ·视野： | 工业 CT 扫描成象的范围。 |
| ·切片厚度： | CT 图象所对应的射线切割物体的厚度。 |
| ·重建： | 射线穿过试件后的投影数据转换成代表试件截面衰减特性分布图象的计算过程。 |
| ·象素： | 构成 CT 图象的基本单元。 |