| ·空间分辨率： | 工业 CT 系统鉴别和区分微小细节特征的能力。 |
| ·密度分辨率： | 对比灵敏度 contrast sensitivity
工业 CT 系统区分材料密度(或线性衰减系数)特性变化的能力。 |
| ·伪象： | 在 CT 图象上出现的与试件的结构及物理特性无关的图象特征。 |
| ·标准试件： | 用来确定工业 CT 系统空间分辨率及密度分辨率等性能指标的试件。 |
| ·探测器： | 将射线信号转换为电信号的装置。 |
| ·射束硬化： | 在使用非单能射线源时，射线穿透试件的过程中平均能量逐渐提高的现象。 |
| ·射束宽度： | 在被检测物体的特定位置，垂直射线的方向上，射线源发出的被单个探测器接收的射束的有效宽度。
射束宽度与焦点尺寸、探测器尺寸以及射线源、探测器、试件的相对位置有关。 |
| ·投影： | 材料的线性衰减系数分布函数沿着射线方向上的线积分。 |
| ·采样点数： | 重建-幅 CT 图象所用到的采样点总数。 |
| ·线扩展函数： | 理想的线状物质在重建图象(密度图象)上的响应或扩展函数。 |
| ·边缘响应函数： | 理想的两种物质的边界在重建图象(密度图象)上的响应函数。 |
| ·调制度： | 图象系统对特定空间频率响应能力的度量。在 CT 图象上，它近似等于细节特征有效对比度( μ)
e
和实际对比度 μ 的比值。有效对比度( μ)
e
是细节特征和背景的显示对比度；实际对比度 μ 是细节和
背景的真实对比度。 |
| ·调制传递函数： | 图象系统的调制度随空间频率的变化关系。它在数值上等于线扩展函数的一维傅立叶变换。 |
| ·CDD 曲线： | 在 50%的检测概率下，将直径为 D、间隔为 2D 的细节特征区分开所需要的实际对比度与细节特征
直径之间的关系曲线。 |
| ·视野： | 工业 CT 扫描成象的范围。 |
| ·准直器： | 将射线源发出的射线束限制或处理成所需形状的一种装置。用于减少散射、改善分辨率等。 |
| ·切片厚度： | CT 图象所对应的射线切割物体的厚度。 |
| ·象素： | 构成 CT 图象的基本单元。 |