| ·可靠性指标： | 本标准中可靠性指标包括系统的狭义可靠性和维修性、有效性；可靠性指标，一般用下列
特征量表示:
a.平均无故障工作时间 MTBF，
b.平均修复时间 MFFR，
c.平均有效度A。
（GJB 701.10-89 地面雷达情报处理和传递系统通用技术条件系统可靠性考核方法） |
| ·可靠性指标： | 在军用规范的额定条件下所获得的失效率的最大值。一般以每小时负n次方(10n／小时)来表示。
（GJB 546-88 电子元器件可靠性保证大纲） |
| ·剂量率翻转的阈值： | 能引起下述任一种现象出现的剂量率：
a) 瞬态输出翻转，即处于工作状态的数字集成电路，输出电压发生变化，而高于或低于规定的逻
辑电平(瞬态电压判据见 3.2)，但在辐射脉冲停止作用后，电路立即恢复至辐射前的状态。
b) 数据存贮或逻辑状态翻转，有一个或多个内部存贮或逻辑单元的状态发生变化，而且在辐射脉
冲作用后并不能立即得到恢复。但是，如果在输入端施加一个与原先用来建立辐射前状态时相
同的逻辑信号序列，可使电路恢复至辐射前的条件状态。
c) 动态翻转，正处于工作状态的器件受辐射时，其正常输出或存贮的测试图形发生变化。翻转响
应可取决于辐射脉冲与器件工作周期之间精确的时间关系。由于工作时需要许多时钟信号，使
用宽辐射脉冲是必需的。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·翻转阈值： | 器件翻转的最小剂量率。然而，记录中所测得的翻转阈值应是最大剂量率，该剂量率是器件未翻转
且输出波形和(或)电源电流的瞬态干扰仍保持在规定极限范围内的情况下测得的数值。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·确定的测试算法： | 指加在逻辑器件或逻辑单元上，具有已知故障覆盖率或测试效率的一种算法、程序、或一个测试向
量序列。这里的故障覆盖率或检测效率指采用确定的测试算法得到的故障覆盖率或得到的检测效率。例
如，用于随机存储器(RAM)的一个确定的测试算法可以是公开发表的存储测试算法(如 GALPAT)。试
验证明它基本上可以测试出 RAM 所有的故障，因此被评定为具有 100%的测试效率。对 ALU，可以采
用一个经预先计算的、其故障覆盖率已被预先确定的测试向量序列来测试。对不同的逻辑器件或逻辑单
元，存在不止一个确定的测试算法，每一个都分别有确定的故障覆盖率或确定的检测效率。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·阈值： | 最小输入量的最大绝对值。由该输入量所产生的输出量至少应等于按标度因数所期望输
出的50％(见图2)。
（GJB 585-88 惯性技术术语） |
| ·激光阈值： | 激光陀螺仪中，激光增益刚好超过损耗的放电电流。
（GJB 585-88 惯性技术术语） |
| ·测量不确定度： | 用标准偏差、标准偏差的倍数或置信区间表示的被测量的值相对于测量值的分散度。
（GJB 727A-98 航天测控系统术语与缩略语） |
| ·阈值对比度： | 在某-视场亮度下，人眼能察觉的最小对比度。
（GJB 743-89 军用光学仪器术语、符号） |
| ·随动系统性能指标： | 评定随动系统满足作战使用要求及质量水平的技术性能参数。
（GJB 744A-98 武器发射系统术语） |