基本信息

同源术语

·软磁盘机(FDU)和软磁盘子系统：	本规范规定的软磁盘机和软磁盘子系统均指记录媒体为软磁盘片，记录格式为软分段，并 能进行随机存取数据的设备，它们之间的区别在于：软磁盘子系统带有电源装有一台或多台软 磁盘机，有的还带有控制器。
·记录方式：	为实现数据存取而规定的编码方式。
·记录密度：	最内磁道单位长度所允许记录的最大数据位数。
·磁通翻转密度：	最内磁道单位长度上所允许记录的最大磁通翻转数。
·磁道密度：	径向单位长度上的磁道数。
·柱面：	各记录面上具有相同磁道号的磁道的集合。
·非格式化容量：	在磁盘上以非格式化方式记录的数据字节数。
·格式化容量：	在磁道上以特定格式记录的数据字节数。
·数据传输率：	单位时间内所传输的数据位数。
·主轴电机启动时间：	从驱动器收到启动信号开始，到主轴电机达到额定转速所需的时间。
·寻道时间：	磁头移到目的磁道所需时间与稳定时间之和。
·稳定时间：	磁头到达目的磁道后允许其开始进行信息存取的时间。
·道-道时间：	磁头从某磁道移到相邻磁道所需时间。
·平均寻道时间：	若干次随机寻道时间的平均值。
·平均旋转等待时间：	磁头所达目的磁道后，找到目的扇区所需时间的平均值。
·磁头定位精度：	磁头的读写缝中心偏离任意记录磁道中心线的径向距离。
·磁头偏角(方位角)：	磁头读写缝的轴线与磁通翻转轴之间的角度。
·索引：	索引是确定磁道起始和终止的点，在检出索引脉冲(由索引传感器检出)前沿的瞬间，索引 正处于读写缝的正下方。
·索引定位精度：	索引位置相对于磁头读写缝位置的偏差。
·缺陷磁道：	连续检测时，在磁道的同一位置上连续通过时发现一个或多个漏脉冲或冒脉冲。
·恶劣码：	导致读出信号峰值飘移最大的数据模式。
·读软错：	读操作时出错，并在规定的重试次数内可恢复的错误。
·寻道错：	寻道操作时，出现与目的磁道不符的错误。
·时间余量：	具有位偏移的未补偿的数据与锁相检读窗口相对宽度磁道时间余量。
·磁头加载时间：	从磁头加载开始，所读出信号的幅度达到最大幅度的90％时，所用的时间。
·互换性：	同类军用软磁盘机应能进行数据互换。
·数据保护：	软盘片上的数据不会因软磁盘机电源的开或关而被破坏。

相关术语

·密码错误扩散：	密文传输中出现的一个错误，引起解密后的明文出现多个错误的现象。 （GJB 700-89 军用通信系统术语）
·密码错误扩散：	密文传输中出现的一个错误，引起解密后的明文出现多个错误的现象。 （GJB 700A-2006 军用通信系统术语）
·振荡次数：	在调整时间内，系统输出量穿越稳定值次数的-半。 （GJB 727-89 遥测系统术语）
·错误几率：	虚警率与不计数率之和。 （GJB 742-89 装甲车辆术语、符号）
·软错误：	由于 α 粒子辐射撞击引起被测器件输出出现瞬时的或数据存储的任一种错误。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·故障层次：失效机理、物理失效、逻辑故障、错误：	“故障层次”把物理缺陷及其起因与故障仿真器及可观察到的效应联系起来。 “失效机理(failure mechanism)”是物理失效的真正起因，例如微电路中铝互连线的电迁移。 “物理失效(physical failure)(简称失效)”是失效机理引起的实际物理缺陷，例如金属互连线开路。 “逻辑故障(logical fault)(简称故障)”是直接由失效引起的结果的逻辑抽象，例如开路金属线导致 逻辑门输入端的“固定 1”行为。 “错误(error)”是在有故障的 DUT 的一个或多个可观察的初始输出端与无故障 DUT 相应输出端 之间逻辑行为的区别。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·启停次数：	动压陀螺电机通电，转子从静止到浮起后断电，转子又从浮起状态恢复到静止，循环往复 的次数。 （GJB 585-88 惯性技术术语）
·软错误：	单个高能粒子使半导体器件产生随机、非循环的一位或数位逻辑错误。 （GJB 727A-98 航天测控系统术语与缩略语）
·硬错误：	单个高能粒子引起半导体器件的永久损伤。相对于软错误而言。 （GJB 727A-98 航天测控系统术语与缩略语）
·振荡次数：	随动系统在单位阶跃信号作用下，响应曲线从开始到进入规定的稳态区间止，响应曲线 穿越其稳态直线的次数的一半。 （GJB 744A-98 武器发射系统术语）