基本信息

同源术语

·缺陷：	设备的任一质量特征不符合规定的技术标准，即构成缺陷。
·机械缺陷：	设备的机械性能不符合规定的技术标准，或会造成机械故障及降低设备使用性能的缺陷。
·致命缺陷：	对设备的使用、维修、运输、保管等人员会造成危害或不安全的缺陷；或可能妨碍某些重要 装备(如舰艇、坦克、大型火炮、飞机等)的战术性能的缺陷。
·重缺陷：	有可能造成故障或严重降低设备使用性能，但又不构成致命缺陷的缺陷。
·轻缺陷：	不构成重缺陷，但会降低设备使用性能或不符合规定的技术标准，而对设备的使用或操作 影响不大的缺陷。

相关术语

·最小假设初始缺陷尺寸：	为用于分析结构剩余强度和裂纹增长特性而假设的初始最小缺陷。 （GJB 540.10-88 飞航导弹强度和刚度规范地面试验）
·初始缺陷：	初始缺陷是认为导弹在交付使用之前结构就带有的预存缺陷(如孔边角裂纹，孔边穿透裂纹等)。 （GJB 540.10-88 飞航导弹强度和刚度规范地面试验）
·可视图文：	按照标准化的规程及接入方式，经由通信网向用户提供终端与数据库间通信并可进行图 文显示的一种交互式通信业务。 （GJB 700-89 军用通信系统术语）
·可视电话：	既能通话又能同时传送活动的或周期变化静止图像的通信。 （GJB 700-89 军用通信系统术语）
·缺陷分析：	通过检查技术及管理(非技术的)数据,确定造成电气、机械及物理特性超出规定界限的原因。 （GJB 546-88 电子元器件可靠性保证大纲）
·磁带缺陷：	指磁带磁层的空洞，表面粘附氧化物或裁带碎屑、磨损产物、外界颗粒状物质，以及裁带宽 度超差。带基材料压光不当等。 （GJB 727-89 遥测系统术语）
·氧化层缺陷：	氧化层中由边缘处两条或三条彩色条纹所表征的不规则形状缺陷。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·缺陷：	外形、装配、功能或工艺与规定的要求不相符合。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·与批有关的缺陷：	由于设计或者制造、试验、或检验过程变化而导致重复出现的缺陷(例如掩模版缺陷，金属化层厚 度、键合强度、绝缘电阻、以及金属化层布线间距、引线之间或引线与芯片边缘之间的间距)。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）
·可筛选的缺陷：	一种采用非破坏性筛选试验或检验能有效检测出的缺陷。 （GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序）