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基本信息
【标准号】
GJB 5022-2003
【中文名称】
PIN、APD光电探测器件通用规范
【英文名称】
General specification for photo detectors of PIN、APD
【发布时间】
2003-07-21
【实施时间】
2003-10-01
【有效性】
有效
【起草人】
赵英
;
常利民
;
【起草单位】
信息产业部电子第四研究所
【提出单位】
中国人民解放军总装备部电子信息基础部
【归口单位】
【批准单位】
中国人民解放军总装备部
【分类】
【备案号】
【自动关键词】
合格判定数
;
寿命试验
;
承制方
;
检验批
;
详细规范
【范围】
本规范规定了PIN、APD光电探测器件(以下简称器件或产品)的通用要求。
【与前一版的变化】
引用文件/
被引文件
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GJB 33.007-89
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包含图表
筛选
A组检验a
B组检验
B组检验
C组检验
C组检验
终点测试
辐射强度保证等级
温度范围
统计抽样和寿命试验程
统计抽样和寿命试验程
标准反馈
     反馈标准:
问题类型:
技术性问题
逻辑性问题
应用性问题
编辑性问题
其它问题
反 馈: