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基本信息

GJB 5022-2003
PIN、APD光电探测器件通用规范
General specification for photo detectors of PIN、APD
2003-07-21
2003-10-01
有效
赵英;常利民;
信息产业部电子第四研究所
中国人民解放军总装备部电子信息基础部
中国人民解放军总装备部
合格判定数;寿命试验;承制方;检验批;详细规范
【范围】 本规范规定了PIN、APD光电探测器件(以下简称器件或产品)的通用要求。
【与前一版的变化】

引用文件/被引文件

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包含图表

筛选
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B组检验
B组检验
C组检验
C组检验
终点测试
辐射强度保证等级
温度范围
统计抽样和寿命试验程
统计抽样和寿命试验程

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