用户名:
密码:
登 录
个人中心
系统维护
用户注册
联系我们
当前位置 >
首页
> 公式、表格、符号、图形细览
统计抽样和寿命试验程序
标准号:
GJB 5022-2003
标准名称:PIN、APD光电探测器件通用规范
2003-07-21
同源图形
筛选
A组检验a
B组检验
B组检验
C组检验
C组检验
终点测试
辐射强度保证等级
温度范围
统计抽样和寿命试验程
相关图形
程序表
GJB 33.4-87
半导体分立器件详细规
程序 I 试验曲线
GJB 595.8-88
炮兵光学仪器环境试验
程序Ⅱ试验曲线
GJB 595.8-88
炮兵光学仪器环境试验
程序III试验曲线
GJB 595.8-88
炮兵光学仪器环境试验
SEP寿命曲线、寿命预
HB/Z 217-92
应变能时间相关疲劳寿
检验程序
GJB 2003-94
针刺雷管通用规范
标引工作选词程序圈
HB 6588-92
航空工业档案主题标引
抽样方案
GJB 3011-97
无线双工移动通信系统
拟议的旋转寿命试验用
GJB 360.16-87
电子及电气元件试验方
图1 试验-般程序框图
GJB 5232.1-2003
战术导弹战斗部靶场试