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基本信息
【标准号】
GJB 1420.1-2000
【中文名称】
半导体集成电路陶瓷双列外壳详细规范
【英文名称】
Detail speci fication of ceramic DIP for semiconductor integrated circui ts
【发布时间】
2000-04-24
【实施时间】
2000-09-01
【有效性】
有效
【起草人】
汤纪南
;
周海翔
;
【起草单位】
江苏省宜兴电子器件总厂
【提出单位】
中华人民共和国信息产业部
【归口单位】
中国电子技术标准化研究所归
【批准单位】
中国人民解放军总装备部
【分类】
【备案号】
【自动关键词】
金属化层
;
半导体集成电路
;
绝缘电阻
;
详细规范
;
外引线
【范围】
1.1 主题内容 本规范规定了半导体集成电路陶瓷双列外壳生产和交付的详细要求,以及外壳必须满足 的质量和可靠性保证要求。 1.2 适用范围 本规范适用于半导体集成电路8引线-64引线陶瓷双列外壳的底座(具体型号见表1)。
【与前一版的变化】
引用文件/
被引文件
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GJB 146.8-87
在普通交换电话网和点对点二线专用电话型电路上使用的用回波抵消技术实现的2400比特/秒双工调制解调器
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GJB 146.9-87
在四线点对点专用电话型电路上使用的9600比特/秒调制解调器
·
GJB 147.1-86
用于数据传输的一般专用标准电话型电路特性
包含图表
底座结构
底座尺寸
部位名称
缺口及裂纹
凸起
凸起与凹坑
凹线
凸起
色斑、异物及镀金沾污
密封面金属化缺损
关键键合区孔隙
芯片粘结区孔隙
键合区缺损与回缩
键合区毛刺
密封区金属化层塌陷
芯片粘结区金属化层上
引线钎焊缝
引线与钎焊区的偏高
外引线、钎焊区与底板
外引线凹坑与毛刺
引出端识别标志
引线电阻
引线电阻
标准反馈
     反馈标准:
问题类型:
技术性问题
逻辑性问题
应用性问题
编辑性问题
其它问题
反 馈: