基本信息

同源缩略语

·ATE：	自动测试设备
·BIT：	机内测试
·BITE：	机内测试设备
·CTS：	中央测试系统
·CFDR：	严重故障检测率
·FAR：	虚警率
·FDR：	故障检测率
·FDT：	故障检测时间
·FIR：	故障隔离率
·FIT：	故障隔离时间
·FMECA：	故障模式、影响及危害性分析
·ICD：	接口控制文件
·IDD：	接口描述文件
·JTAG：	联合测试行动组
·LRU：	现场可更换单元
·LRM：	现场可更换模块
·MTBFA：	平均虚警间隔时间
·MOP：	维修操作规程
·PBIT：	周期BIT
·PHM：	预测与健康管理
·PMA：	便携式维修辅助装置
·SRU：	车间可更换单元
·TPS：	测试程序集
·TRD：	测试需求文件
·UUT：	被测单元