基本信息

同源缩略语

·ATE：	自动测试设备
·BIT：	机内测试
·BITE：	机内测试设备
·d-Level：	基地级
·FAR：	虚警率
·FD：	故障检测
·FI：	故障隔离
·I-Level：	中继级
·LSSD：	电平敏感扫描设计
·MTE：	人工测试设备
·O-Level：	基层级
·PCB：	印制电路板
·RTOK：	再测试通过
·RU：	可更换单元
·TE：	测试设备
·TM：	测试与维修
·TP：	测试、测量与诊断设备 测试点
·TPS：	测试程序组