基本信息

同源缩略语

·ABIT：	自动机内测试
·ATE：	自动测试设备
·ATPG：	自动测试生成器
·BIT：	机内测试
·BITE：	机内测试设备
·CND：	不能复现
·FAR：	虚警率
·FD：	故障检测
·FDR：	故障检测率
·FIR：	故障隔离率
·GPETE：	通用电子测试设备
·GPTE：	用测试设备
·IBIT：	启动机内测试
·ID：	综合诊断，接口装置
·LRU：	场可更换单元
·OTP：	操作测试程序
·OTPS：	操作测试程序集
·PBIT：	加电机内测试
·RTOK：	重测合格
·SPETE：	专用电子测试设备
·SPTE：	专用测试设备
·SRU：	车间可更换单元
·SSRU：	车间可更换子单元
·STE：	专项测试设备
·TAMS：	测试和监测系统
·TMDE：	测试、测量和诊断设备
·TP：	测试程序
·TPI：	测试程序说明
·TPS：	测试程序集
·TPSD：	测试程序集文件
·UUT：	被测单元