| ·MTBF 检验值的下限值θ
1： | MTBF 检验值的下限值θ
1
是不可接受的 MTBF 值。当设备平均无故障工作时间的真值接
近θ
1
时，标准试验方案以高概率拒收设备。 |
| ·MTBF 检验值的上限值θ
0： | MTBF 检验值的上限值θ
0
是可接受的 MTBF 值。当设备平均无故障工作时间的真值接近
θ
0
时，标准试验方案以高概率接收设备。 |
| ·平均无故障工作时间的观测值
θ： | 平均无故障工作时间的观测值θ等于设备的总工作时间或承受规定的试验应力的累计时
间除以关联失效数。其中总工作时间除以关联失效敬所得到的平均无故障工作时间的
观测值以θon表示。承受规定的试验应力的累计时间除以关联失效数所得到的平均无故
障工作时间的观测值以nθ 表示。 |
| ·平均无故障工作时间的验证值
θ： | 平均无故障工作时间的验证值θ 是在试验的条件下平均无故障工作时间真值的可能范围。
用θon(或θs)乘以表 9，表 10 中相应的上限因子和下限因子可得到θon(或θs)。 |
| ·平均无故障工作时间的预计值θ
P： | 平均无故障工作时间的预计值θp是按照设备的设计及使用环境用可靠性预计的方法确定
的耳均无故障工作时间(θp在数值上应大于或等于θ0，以保证在可靠性鉴定试验中，试
验方案以高概率接收设备) |
| ·鉴别比 d
m： | 鉴别比 dm是验证平均无故障工作时间的统计试验方案的参数之一，这个比值说明θ0和θ1
差别的大小。dm等于θ0比θ1(即 dm=0θθ)。 |
| ·R 检验值的下限值 R
1： | R 检验值的下限值 R1是不可接受的可靠度值。当设备可靠度 R 的真值接近 R1时，
标准试验方案以高概率拒收设备。 |
| ·R 检验值的上限值 R
0： | R 检验值的上限值 R0是可接受的可靠度值。当设备的可靠度 R 的真值接近 R0时，
标准验方案以高概率接收设备。 |
| ·R 的验证值 R： | R 的验证值 R 是在试验条件下，可靠度真值的可能范围 |
| ·R 的观测值 R
^： | R 的观测值 R^等于设备成功的试验次数除以总的试验次数。 |
| ·R 的预计值 R
P： | R 的预计值 RP是按照设备的设计及使用环境，用可靠性预计的方法确定的可靠度(RP在
值上应大于或等于 R０，以保证在可靠性鉴定试验中试验方案以高概率接收设备)。 |
| ·鉴别比 d
r： | 鉴别比 dr是验证可靠度的统计试验方案的参毂之一，dr等于(1-R1) 比 ( 1 - R0) ( 即 dr=0111RR |
| ·生产方风险率α： | 设备乎均无故障工作时间(或可靠度)的真值等于平均无故障工作时间(或可靠度)检验值
的上限值θ0(或 R1)时设备被拒收的概率。 |
| ·使用方风险率β： | 设备平均无故障工作时间(或可靠度)的真值等于平均无故障工作时间(或可靠度)检验值
的下限值θ0(或 R1)时设备被接收的概率。 |
| ·失效： | 失效应采用下述一般定义失效是指原先为合格的产品，在规定的条件下，其一个或几
个功能参数不能保持在规定的上下限之间。
失效也指会引起产品在工作条件失效的机械结构部件或元件的破裂、断裂或损坏状态。
在产品技术要求或试验程序中，必须说明有关失效判据的各种细节(包括所需功能及性能
参数的上下限)。 |
| ·独立失效： | 不是由于其它元器件、部件、试验设备、仪表或试验装置的失效而引起的失效。 |
| ·间歇失效： | 不经修复而在短时间内能自行恢复的失效 |
| ·多重失效： | 同时出现的两个或多个独立失效 |
| ·设备设计失效： | 由于设备设计原因所直接引起的设备失效，例如由于线路设计不当使某一部件承受过应
力而产生失效，或不正确选用某些部件而引起的失效等。 |
| ·设备制造失效： | 由于在试验前设备的制造、试验或维修期间工艺质量差或不适当的生产控制过程而引起
的失效。例如部件生产装配过程的过应力而引起的失效。 |
| ·零部件设计失效： | 直接地由于组成设备的零部件不适当的设计所产生的失效 |
| ·零部件制造失效： | 由于零部件组装阶段工艺质量差或生产过程控制不适当、检验或试验不当引起的失效 |
| ·软件误差： | 当受试设备含有计算机时，软件误差会引起设备故障若在试验期间软件误差已得到纠正
和验证，则这类误差就不应计入责任失效。 |
| ·调节机构失效： | 由于设备本身调节控制机构的缺陷影响到设备不能完成其规定功能的失效。 |
| ·机内测试系统失效： | 由于机内测试系统的缺陷产生测试误差或不正确的隔离，定位或虚报警率超过某一规定
水平的失效。 |
| ·特殊失效： | a 导致立即作出拒收判决的失效受试设备对试验、使用和维修人员会造成危险或不安全
条件或会导致大批物资损失的失效。
b 反复失效在相同或等效使用中，由于相同的基本失效机理而引起的同一部件的两个或
两个以上的失效。反复失效亦称典型失效。 |
| ·从属失效： | 由于某-相联产品的失效而引起的失效 |
| ·误用失效： | 对试验样品施加了超过规定应力、安装不当及试验操作人员的过失等而造成的失效 |
| ·关联失效： | 设备在现场使用中预期会出现的所有失效。在计算 MTBF 的验证值时所有的关联失效都
应列入 |
| ·非关联失效： | 非受试设备本身条件引起的不属于试验要求且在现场使用中预期不会出现的失效 |
| ·责任失效： | 承制方提供的受试设备在试验由出现的每一个关联的、独立失效以及由此引起的任何从
属失效算作一次责任失效。其中承制方提供的操作、维护、修理程序而引起的失效，也应算作
责任失效。责任失效计入产品的失效判决。 |
| ·非责任失效： | 由订购方提供或订购方指定的其它承制方提供的设备的独立失效而引起受试设备的失
效。非责任失效也包括订购方提供的操作、维护、修理程序而引起的失效，非责任失效不计入
产品的失效判决。 |
| ·工作寿命说明： | 工作寿命说明系指产品从工厂的最后验收起直至最终报废为止这一过程的有关事件及条
件的全面说明。例如运输、贮存、试验、检查、维修、待机、准备状态、工作部署、战斗任务及其
交替的可能性等都包括在说明之内。此外，还要说明每一事件的时间长短(或比例)、环境条
件、工作模式等等。 |