| ·密码错误扩散： | 密文传输中出现的一个错误，引起解密后的明文出现多个错误的现象。
（GJB 700-89 军用通信系统术语） |
| ·密码错误扩散： | 密文传输中出现的一个错误，引起解密后的明文出现多个错误的现象。
（GJB 700A-2006 军用通信系统术语） |
| ·振荡次数： | 在调整时间内，系统输出量穿越稳定值次数的-半。
（GJB 727-89 遥测系统术语） |
| ·三读数法： | 用高内阻的电压表分别测量消磁绕组间的电压，消磁绕组正极对地之间的电压和消磁
绕组负极对地之间的电压，利用公式对这三个电压参数以及电压表内阻值进行计算，以得
到绝缘电阻的方法。计算公式如下：
（GJB 164.48-86 登陆舰艇系泊和航行试验规程消磁系统试验） |
| ·错误几率： | 虚警率与不计数率之和。
（GJB 742-89 装甲车辆术语、符号） |
| ·软错误： | 由于 α 粒子辐射撞击引起被测器件输出出现瞬时的或数据存储的任一种错误。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·故障层次：失效机理、物理失效、逻辑故障、错误： | “故障层次”把物理缺陷及其起因与故障仿真器及可观察到的效应联系起来。
“失效机理(failure mechanism)”是物理失效的真正起因，例如微电路中铝互连线的电迁移。
“物理失效(physical failure)(简称失效)”是失效机理引起的实际物理缺陷，例如金属互连线开路。
“逻辑故障(logical fault)(简称故障)”是直接由失效引起的结果的逻辑抽象，例如开路金属线导致
逻辑门输入端的“固定 1”行为。
“错误(error)”是在有故障的 DUT 的一个或多个可观察的初始输出端与无故障 DUT 相应输出端
之间逻辑行为的区别。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·启停次数： | 动压陀螺电机通电，转子从静止到浮起后断电，转子又从浮起状态恢复到静止，循环往复
的次数。
（GJB 585-88 惯性技术术语） |
| ·软错误： | 单个高能粒子使半导体器件产生随机、非循环的一位或数位逻辑错误。
（GJB 727A-98 航天测控系统术语与缩略语） |
| ·硬错误： | 单个高能粒子引起半导体器件的永久损伤。相对于软错误而言。
（GJB 727A-98 航天测控系统术语与缩略语） |