| ·表面发射率： | 单位时间从放射源或其窗表面发射出来的超过某一能量的α或β粒子总数。 |
| ·饱和层厚度： | 放射性核素均匀分布组成的放射源或样品的介质厚度，它等于特定的α或β辐射的最大
射程。 |
| ·饱和厚样： | 专门制作的达到或超过饱和层厚度的α或β放射性污染固态或液态样品。 |
| ·源效率： | 放射源的表面发射率与单位时间内放射源(含饱和层厚度)中产生(释放)的同类粒子总数
之比。 |
| ·有效量程： | 满足本规范要求的测量范围。 |
| ·仪器效率： | 在规定的测量几何条件下仪器的读数(计数率)与放射源表面发射率之比，通常用百分数
表示。 |
| ·约定真值： | 对给定目的而言，被认为充分接近真值，可以代替真值的值。通常它的数值由次级标准或
基准确定，或由按次级标准或基准校准过的参考装置确定。 |
| ·指示值误差： | 仪器的被测辐射量指示值与该辐射量约定真值之差。 |
| ·指示值相对误差： | 仪器指示值误差除以被测辐射量约定真值所得的商，用百分数表示。 |
| ·相对固有误差： | 仪器在有效量程内与规定的检验条件下的指示值相对误差。 |
| ·指示值变化(变动量)： | 仪器一个影响量偏离规定的检验条件，在额定使用范围内取任一值，且其他影响量均应处
于规定的检验条件下，仪器指示值相对于规定的检验条件下的变化增量。 |
| ·相对指示值变化(相对变动量)： | 指示值变化除以规定的检验条件下指示值所得的商，用百分数表示，即：
|
| ·变异系数： | 由一组n个测量值X
i
得到的标准偏差S与算术平均值 X 之比，即：
可用总计数平方根的倒数近似作为本规范各项检验中所需的变异系数。 |