| ·平均无故障工作时间假设值的下限值(θ
1
)： | 不可接收的平均无故障工作时间值。当产品的平均无故障工作时间的真值接近θ1时，标
准试验方案将以高概率拒收产品。 |
| ·平均无故障工作时间假设值的上限值(θ
0
)： | 可接收的平均无故障工作时间值。当产品的平均无故障工作时间真值接近日θ0时，标准
试验方案将以高概率接收产品 |
| ·平均无故障工作时间的置信区间值(θ )： | 在规定的置信度和试验条件下，产品平均无故障工作时间的真值的可能范围。 |
| ·平均无故障工作时间的观察值(θ
)： | 在规定的试验条件下，产品无故障工作时间的平均值。它等于产品的总工作时间除以关
联失效数。 |
| ·平均无故障工作时间的预期值(
P
θ )： | 根据产品的设计和使用条件，用可靠性预计的方法确定的平均无故障工作时间(θp在
数值上应大于或等于oθ 。以保证在可靠性鉴定试验中，试验方案以高概率接收产品)。 |
| ·订货方风险率(β )： | 产品的平均无故障工作时间的真值等于其平均无故障工作时间假设值的下限值日1时，产
品被试验方案判决为接收的概率。 |
| ·供货方风险率(α )： | 产品的平均无故障工作时间的真值等于其平均无故障工作时间假设值的上限值口θ。时，产
品被试验方案判决为拒收的概率。 |
| ·鉴别比(Dm)： | 平均无故障工作时间假设值的上限值θ。与其下限值1θ 之比，表示1θ 与oθ 差别的倍数，
即：θ/θo |
| ·关联失效： | 由产品本身条件引起的，而且产品在现场使用中预期会出现的所有失效。在解释试验结
果或计算可靠性特征值时，所有关联失效均应计入。 |
| ·独立失效： | 不是由于试样的另一元件、器件、部件、试验装置、仪表或其他试验条件的失效而引起
的失效。 |
| ·产品设计失效： | 由于产品设计的原因而造成的失效。 |
| ·产品制造失效： | 由于在试验前的制造、试验或维修期间工艺质量差而引起的失效。它包括产品在装配过
程中部件可能承受的过应力。 |
| ·零部件设计失效： | 由于零部件设计的原因而造成的失效。其范围将涉及零部件的寿命及经受连续温度循环
的能力。 |
| ·零部件制造失效： | 由于零部件组装阶段工艺质量差，检验或试验不当而引起的失效 。 |
| ·钦件误差失效： | 由于钦件误差而引起的失效。 |
| ·调节机构失效： | 由于产品本身调节控制机构的缺陷影响到产品不能完成规定功能的失效。 |
| ·机内测试系统失效： | 由于机内测试系统的缺陷，致使产品性能参数不能保持在规定的上下限之间。 |
| ·反复失效： | 在相同或等效的使用中，由于相同的基本失效机理而引起的同一部件的两个或两个以上
的失效。 |
| ·间歇失效： | 产品失效后，不经修复而在一定时间内能自动恢复功能的失效。 |
| ·未证实的失效： | 试验期间未重复出现，而一时尚未判明失效原因或在试验结束时仍在调查中的失效。 |
| ·操作、维修程序引起的失效： | 由于供货方提供的操作、维护、修理程序而引起的失效。 |
| ·非关联失效： | 不是产品本身条件引起的、而且产品在现场使用中预期不会出现的失效。在分析试验结
果或计算可靠性特征值时，所有非关联失效均不计入。 |
| ·从属失效： | 由于试样已经发生和存在的失效直接或间接引起的牵连性失效，或因试验设备、仪器、
仪表及其它试验条件的失效而导致的失效。 |
| ·误用失效： | 对试样施加了超过规定的应力(包括不适当的应力等级、不适当的安装及试验操作人员
的过失等)而引起的失效。 |
| ·订货方责任失效： | 由于订货方提供的设备、操作、维护、修理程序而引起的失效。 |
| ·有规定寿命期限元器件引起的失效： | 有规定寿命期限的元器件，工作时间超过了其规定的更换期限而未更换所引起的失效。 |