| ·测试： | 对给定的产品、材料、设备、系统、物理现象或过程，按照规定的程序确定一种或多种特性
的技术操作。 |
| ·检测： | 确定某种现象是否存在的过程。 |
| ·检查： | 为确定产品的状况或状态所进行的测试或观测。 |
| ·监测： | 在产品工作过程中，对产品的工作状态进行的观察和测量。 |
| ·被测单元： | 被测试的任何系统、分系统、设备、机组、单元体、组件、部件、零件或元器件等的统称 |
| ·测试点： | UUT 本身所具有的用于测量或注入信号的电气连接点。 |
| ·故障隔离的可更换单元： | 通过对 UUT 的诊断测试所识别出的可更换分系统、组件、部件或元器件。 |
| ·现场可更换单元： | 可在工作现场(基层级)从系统或设备上拆卸并更换的单元。 |
| ·车间可更换单元： | 可在车间(中继级)内，从 LRU 上拆卸并更换的单元。 |
| ·车间可更换子单元： | 可在车间(基地级)内，从 SRU 上拆卸并更换的单元 |
| ·故障检测： | 发现故障存在的过程。 |
| ·故障定位： | 确定故障大致部位的过程。 |
| ·故障隔离： | 把故障确定到实施修理所要求的产品层次的过程。 |
| ·诊断： | 检测故障和隔离故障的过程。 |
| ·诊断能力： | 与检测、隔离和报告故障等有关的所有能力。 |
| ·诊断要素： | 构成诊断能力的要素，它包括自动和人工测试、维修辅助信息、技术资料、人员和培训等。 |
| ·综合诊断： | 通过分析和综合全部有关的诊断要素，使系统诊断能力达到最佳的设计和管理过程。其
目标是以最少的费用、最有效地检测、隔离系统和设备内已知的或预期发生的所有故障，以满
足系统任务要求。 |
| ·测试性： | 产品能及时并准确地确定其状态(可工作、不可工作或性能下降)，并隔离其内部故障的一
种设计特性。 |
| ·固有测试性： | 仅取决于系统或设备的设计，不受测试激励数据和响应数据影响的测试性。 |
| ·可控性： | 确定或描述系统和设备有关信号可被控制程度的一种设计特性。 |
| ·可观测性： | 确定或描述系统和设备有关信号可被观测程度的一种设计特性。 |
| ·虚警： | 机内测试(BIT)或其它监测电路指示有故障而实际上不存在故障的现象。 |
| ·重测合格： | 在某维修级别测试中识别出的有故障的 UUT 在更高维修级别中测试时却是合格的现
象。 |
| ·不能复现： | 由 BIT 或其它监测电路指示的故障在基层级维修时得不到证实的现象。 |
| ·兼容性： | UUT 在功能、电气和机械上与期望的自动测试设备(ATE)接口配合的一种设计特性。 |
| ·纵向测试兼容性： | 保证在不同维修级别上测试结果都能有效、协调的能力。
为了实现纵向测试兼容性，在不同维修级别上，UUT 的受控(被测)参数和参数容差等级
必需协调。纵向测试兼容性差就会造成 RTOK。 |
| ·容差锥： | 一种技术要求，它在工厂或基地级具有较严的测试容差要求；在中继级和基层级逐步放
宽。 |
| ·故障预测： | 根据测试数据确定系统或设备潜在故障的过程。 |
| ·演练： | 通过设备运行并执行其所有预期功能，以便对其运行状态进行观察、测试和诊断的活动。 |
| ·竞争危险： | 两个或两个以上的信号同时发生变化，从而导致电路工作不稳定的一种现象。 |
| ·错开输入： | 一次应用一个测试模式加到 UUT 的一些输入点，其目的是防止 ATE 所加的激励引起正
在测试中的 UUT 内发生竞争危险。 |
| ·模糊组： | 具有相同或类似的故障特征，在故障隔离中无法(或不能)分清故障真实部位的一组可更
换单元。模糊组中的每个可更换单元都可能有故障。 |
| ·模糊延迟： | 可对单元规定最小和最大传输滞后的延迟方式，在最小和最大延迟之间的单元状态是未
知的。 |
| ·调整： | 用电子、电气或物理方法改变产品的变量，从而改变其输出特性以满足规定的工作状态所
进的操作。 |
| ·调准： | 将产品恢复到规定的工作状态所进行的调整 |
| ·相关矩阵： | 反映某一给定系统结构中单元和测试的相互关联的布尔矩阵。 |
| ·敏化通路： | 一个指定信号在不受其它状态的影响下传到主输出设备的信号通路。 |
| ·失效： | 产品丧失完成规定功能能力的事件。 |
| ·瞬时失效： | 由于瞬时的或临时的外部因素(如输入电源的波动，环境温度变化过快，电磁波的影响
等)。或由于系统内部的某些因素而引起的暂时失效。 |
| ·软失效： | 性能超出规定范围，但又不足以导致功能完全丧失的失效。 |
| ·工作异常： | 产品不能按预定方式运行的物理状态 |
| ·故障： | 产品不能执行规定功能的状态。预防性维修或其它计划性活动或缺乏外部资源的情况除
外。故障通常是产品本身失效后的状态，但也可能在失效前就存在。 |
| ·软故障： | 引起 UUT 性能降低的故障；或只有在 UUT 的某些工作条件下才会出现的状态，当这些
条件改变后则故障消失。 |
| ·延迟故障： | 在数字装置中不能在规定的时间间隔内发生电平转换的故障。 |
| ·潜伏故障： | 确定存在而尚未显现的故障。 |
| ·潜在故障： | 指示产品将不能完成规定功能的故障。 |
| ·间歇故障： | 产品发生故障后，不经修理而在有限的时间内自行恢复规定功能的故障。这种故障往往
是反复出现的。 |
| ·桥接故障： | 印制电路板上相邻通路之间由于短路或漏电现象造成的故障。 |
| ·固定电平故障： | 数字信号永久保持在某种二进制状态的故障。 |
| ·拓朴独立故障： | 如果某一故障所在的信号线的信号会影响电路，而当这组信号线与另一故障所在的另一
组信号线不相交时，即这两个故障不会影响电路的共同部分，则称这两个故障为拓朴独立故
障。 |
| ·等效故障： | 对所有可能的测试产生相同响应的两个或两个以上的故障。 |
| ·最可能的故障： | 在 UUT 内部，由于存在高失效率的元器件，相对于 UUT 所有可能的故障来说最可能发
生的故障 |
| ·超差故障： | 产品的参数超出容差规定的上限或下限的故障。 |
| ·可检测的故障： | 能够通过测试识别、报警或异常指示表现出来的故障。 |
| ·不可检测的故障： | 由于电路的冗余或缺少测试入口或其它原因，用任一测试序列都不能检测出的故障。 |
| ·缺陷： | 产品不满足预期的使用要求或合理期望的-种状态。 |
| ·加载差错： | a.由于传送器或其驱动信号源加载而产生的差错。
b.当数据从一个媒体不正确地传送到另一媒体时引入的差错。 |
| ·容错： | 系统或程序在出现特定的故障情况下能继续运行的能力。 |
| ·故障特征： | 识别故障的-组特有的参量或征兆。 |
| ·故障掩盖： | 产品的某一个故障由于产品的特点或另—个故障的存在而未被检查出来的状态。 |
| ·自检测试： | 由产品本身完成的能表明其是否在设计容限内工作的一种或一系列测试。 |
| ·主动测试： | 为了确定 UUT 的静态和动态特性，在一系列已知的工作条件下进行的一系列测试。 |
| ·被动测试： | 不激励 UUT 的测试。 |
| ·自动测试： | 自动完成产品性能评价、故障检测、故障隔离和预测的测试 |
| ·半自动自检测试： | 需要人工干预，或使用外部测试设备或标准，或两者都需要的自检测试。 |
| ·自动自检测试： | 由计算机控制，不需要人工干预的自检测试。它可由操作员启动或由自动机内测试
(ABIT)完成。 |
| ·脱机测试： | 在 UUT 脱离正常工作环境下对其进行的测试。 |
| ·联机测试： | 在 UUT 工作环境中对其进行的测试。 |
| ·实时测试： | 在 UUT 正常工作频率和同步条件下对其进行的测试。 |
| ·比较测试： | 把测试值与基准值或测试值的容差进行比较的测试。 |
| ·置信测试： | 以某-置信水平证明 UUT 工作合格的测试。 |
| ·-致性测试： | 为了证明与应用标准和规范相-致专门进行的测试。 |
| ·诊断测试： | 为了对 UUT 故障进行隔离或证实其确有故障而进行的测试；或为了把故障隔离到更低
产品层次对 UUT 进行的测试。 |
| ·定量测试： | 监视或测量规定的参量和特征的电平或量值，以评价 UUT 工作进行的测试。这种测试
的输出是与特性有关的确定值或定量值。 |
| ·参数测试： | 当所有参数值在规定的范围内改变时，对 UUT 正确运行能力的测试。 |
| ·功能测试： | 确定 UUT 功能是否正常的测试。测试的工作环境(例如激励和负载)可以是实际的也可
以是模拟的。 |
| ·动态测试： | 为确定被测试的瞬时值和/或被测试的值在测试期间随时间和/或其他影响量变化所进行
的测试。 |
| ·动态功能测试： | 在 UUT 工作状态下，以一定的测试序列对其功能进行的连续测试。 |
| ·静态测试： | 被测试的值在测试期间被认为是恒定的测试。 |
| ·稳态功能测试： | 只有当 UUT 相对给定输入激励的输出稳定以后，才对 UUT 输出进行的测试 |
| ·性能测试： | 检验 UUT 性能指标是否满足要求的测试。 |
| ·外部测试： | 系统测试中不完全依赖嵌入测试资源的那部分测试。 |
| ·通过、不通过测试： | 为了确定 UUT 能工作和不能工作的状态而进行的测试。通过，表示功能正常，能工作；
不通过，表示功能不正常，不能工作。 |
| ·线路内测试： | 在隔离周围元器件的影响或输入影响情况下，对电路中各个元器件本身进行的测试。 |
| ·边缘测试： | 在有容差区的显示器上显示测试结果，以对被测信号和被测特性进行评估的测试。例如：
绿色容差区表示容差满足产品工作要求；红色区则表示容差不能满足产品工作要求。 |
| ·闭环测试： | 由设备的输出监控输入激励的测试。 |
| ·环绕测试： | 通常借助于自检适配器或机内转换网络，把系统的输出端连接到输入端来完成该系统的
自检测试。 |
| ·有、无信号测试： | 验证信号或特性是否存在的测试。这类信号或特性对产品的工作没有关键性影响。 |
| ·无损测试： | 不损害 UUT 使用性能的测试。 |
| ·准备状态测试： | 确定设备或系统是否适合于某-工作任务的测试。 |
| ·基于知识的测试： | 部分以预先获得的和储存的知识为基础的测试。 |
| ·随机测试： | 用随机测试模式作为激励，使电路在输出端产生状态变化的测试 |
| ·负测试： | 对激励的正常响应表示为不响应的测试。例如：故障设置一条有语法错误的指令以便检
查电路系统是否正常。 |
| ·无干扰测试： | 在 UUT 正常工作时进行，但不影响其工作的一种联机测试。 |
| ·通断测试： | 用反复地接通和断开信号、电源或 UUT 连线的方法来观察 UUT 某些参数的反应或性能
变化的测试。 |
| ·机内测试： | 系统或设备内部提供的检测和隔离故障的自动测试能力。 |
| ·主动机内测试： | 测试激励信号施加到主系统内，定期地中断主系统工作的 BIT。 |
| ·被动机内测试： | 不中断、不干涉主系统工作的 BIT。 |
| ·自动机内测试： | 当电源接通时，能自动启动的 BIT。它提供连续或迭代测试和监测，不中断主系统正常工
作。 |
| ·连续机内测试： | 连续监测主系统工作的 BIT。 |
| ·启动机内测试： | 由某种事件或操作员启动的 BIT。它可能中断主系统的正常工作，可以允许操作员干预。 |
| ·周期机内测试： | 以规定时间间隔启动的 BIT。 |
| ·加电机内测试： | 在 UUT 电源接通时启动，并当系统准备好时结束测试的 BIT。 |
| ·灵巧机内测试： | 应用人工智能技术的 BIT |
| ·特征诊断： | 检验设备特征与已知或预计特征的偏差，从而确定故障性质和故障部位。 |
| ·演练诊断： | 为了诱发潜伏和间歇故障，而对 UUT 进行诊断的一系列操作。 |
| ·性能监测： | 连续地或周期性地观测所选测试点的参数或状态的过程，以便确定产品性能是否在规定
的范围内。 |
| ·周期性检查： | 按规定的时间间隔进行的检查，以确定 UUT 是否在其规定的范围内正常工作。 |
| ·边缘检查： | 通过改变电路系统工作条件(例如电源电压、频率、电磁干扰、热环境、漏电流等)到接近边
缘值来确定电路薄弱环节和临近故障状态的方法。 |
| ·引导探针技术： | 一种故障隔离技术，采用此技术，测试程序能使 ATE 指示测试人员应该将 ATE 的诊断探
针接到 UUT 的确定位置。 |
| ·反向跟踪： | 从失效部位反向跟踪到若干主输入，并且给主输入赋值，使得在失效部位能产生可识别的
测试过程。 |
| ·正向跟踪： | 从失效部位到-个主输出端生成敏化通路的过程。 |
| ·反驱动： | 在线路内测试中，用于隔离数字器件的大电流、短时间间隔的激励。 |
| ·面向事件模拟： | 当事件发生在单元的-个输入端时对单元的模拟。 |
| ·全部故障模拟： | 按次序-次-个地模拟全部故障。 |
| ·逻辑模拟： | 用计算机建立和运行数字电路模型的模拟技术。 |
| ·并行模拟： | 能同时进行多个模拟的模拟技术。 |
| ·并行故障模拟： | 在自动测试生成器(ATPG)系统中用故障模拟程序同时模拟两个或两个以上故障 |
| ·演绎故障模拟： | 在单向模拟过程中通过细致的网络分析进行推理的故障模拟。 |
| ·零延迟模拟： | 假定所有电路装置无传输延迟的数字逻辑模拟技术。 |
| ·编译驱动仿真： | 把电路的描述翻译成机器可执行码的仿真技术。 |
| ·表格驱动仿真： | 把电路的描述以表格形式储存在计算机中，然后用仿真程序处理这些表格形式数据的仿
真技术。 |
| ·流水线处理： | 被模拟的电路对前一个输入矢量的响应未达到稳定状态之前，可以加入新的输入矢量的
模拟技术。 |
| ·故障检测率： | 用规定的方法正确检测到的故障数与故障总数之比，用百分数表示。 |
| ·故障隔离率： | 用规定的方法将检测到的故障正确隔离到不大于规定模糊度的故障数与检测到的故障数
之比，用百分数表示。 |
| ·虚警率： | 在规定的时间内发生的虚警数和同一时间内的故障指示总数之比，用百分数表示。 |
| ·不能复现率： | 在基层级维修时，BIT 和其它监控电路指示的故障总数中不能复现的故障数与故障总数
之比，用百分数表示。 |
| ·重测合格率： | 在中继级和基地级维修时，测试设备指示的故障单元总数中重测合格的单元数与故障单
元总数之比。用百分数表示。 |
| ·测试有效性： | 对硬件设计、BIT 设计、测试设备设计和测试程序集(TPS)设计的测试性综合度量，测试
有效性的度量包括(但不局限于)故障检测率、故障隔离率、故障检测时间、故障隔离时间和虚
警率。 |
| ·诊断有效性： | 诊断要素满足所要求的故障检测和故障隔离程度的度量。 |
| ·诊断效率： | 诊断要素在最经济的情况下达到所要求的故障检测和故障隔离能力的度量。诊断效率可
表示为诊断有效性与费用之比。 |
| ·诊断准确度： | 在可能的故障数中正确诊断出故障的百分数。 |
| ·模糊度： | 模糊组中包含的可更换单元数。 |
| ·故障检测时间： | 从开始故障检测到给出故障指示所经过的时间。 |
| ·故障潜伏时间： | 故障发生和故障指示之间所经过的时间。 |
| ·故障隔离时间： | 从检测出故障到完成故障隔离所经过的时间。 |
| ·检查时间： | 确定系统特性是否在规定范围所需的时间。 |
| ·采集时间： | -个测试和测量系统采集-个输入信号所需的时间 |
| ·鉴定时间： | 检查 UUT 的全部功能和参数的全部范围，以及检查所有输入和输出端口所需的全部时
间。鉴定时间不包括出现故障后修理和再调整 UUT 所需的时间。 |
| ·端到端运行时间： | 用-个测试程序确定-个好的 UUT 所花费的时间。 |
| ·额定延迟： | 信号通过-个逻辑元件甚至-根导线传输的时间。 |
| ·孔径延迟： | 得到命令到开关确实工作所经过的时间。 |
| ·自动测试设备数据位偏离： | 在相同的数字测试模式中，第一个和最后一个数字脉冲到达 ATE 接口的最大时间差 |
| ·分支逻辑隔离时间： | 每次诊断包含三个或三个以上单值测试分支时，沿着最坏情况逻辑链路所要求的时间。 |
| ·诊断方案： | 对系统或设备诊断的总体设想，它主要包括诊断对象、范围、功能、要求、方法、维修级别、
诊断要素和诊断能力。 |
| ·测试性预计： | 通过使用模型和/或图解的方法，预计产品测试难易程度和充分程度。预计的基本参数是
故障检测率、故障隔离率和虚警率等。 |
| ·测试要求分析： | 为了确定测试充分程度、测试激励的范围、测试方法、测试度量，以及测试设备的类型等而
对测试要求进行的分析。 |
| ·功能划分： | 按功能或用途对系统或单元进行结构划分或电气划分。 |
| ·电气划分： | 为了提高测试能力，从电气或电子学上对系统或单元进行的划分。 |
| ·控制点： | 为进行高效率的测试控制以增强测试性，在系统内实现启动、停止、封锁、复位等功能而引
入的激励点。 |
| ·功能模型： | 由若干功能模块构成的反映单元功能的典型网络。 |
| ·功能模块化： | 根据部件的功能或用途，把系统分解成多个部分或模块的过程 |
| ·故障分解： | 根据故障支配和故障等效的概念，将故障划分成不同的类别。一旦故障划分成等效类别，
则每类故障中只需要用一个典型的故障来进行测试生成和故障模拟，从而提高计算效率。 |
| ·故障注入： | a.在模拟意义上讲，故障注入是把原网络(正常设备)映射成一个新网络(故障设备)的转
换。
b.为了验证 BIT 或测试程序集(TPS)功能，在 UUT 中引入实际或模拟故障的过程。 |
| ·故障字典： | 包含产品的每-个故障和相对应故障特征的表。 |
| ·精确匹配故障字典： | 字典里列举的故障特征与实际故障特征之间存在精确的匹配关系的故障字典。 |
| ·测试生成： | 产生测试或测试激励的过程。 |
| ·测试码模式： | 通过数字测试设备(通常是自动的)施加到一个数字 UUT 输入端的给定模式二进制
码。 |
| ·测试序列： | 测试或测试模式运行的次序 |
| ·测试性验证： | 为检验研制产品满足合同规定的测试性要求而进行的工作。 |
| ·测试系统鉴定： | 验证—个测试系统具有的能力。在鉴定演示时。能对 UUT 作出正确评定。 |
| ·测试程序集确认： | 使用专为 UUT 研制的 TPS 对 UUT 进行试验，以确认 TPS 是否满足设计要求 |
| ·测试程序集验证： | 使用专为 UUT 研制的 TPS 对 UUT 进行试验，以验证 TPS 是否满足合同要求。 |
| ·测试、测量和诊断设备： | 用于评价最终产品或分系统工作状态，或识别和/或隔离实际或潜在故障的任何设备。
TMDE 包括诊断和故障预测设备、半自动和自动测试设备(包含相应软件)以及标校设备。 |
| ·通用测试、测量和诊断设备： | 不需更改就可用于多种设备或系统的 TMDE。 |
| ·测试和监测系统： | 为对 UUT 进行测试和监测而组合起来的全部设备。TAMS 包括自动测试设备(ATE)、
测试程序集(TPS)、计量和校准设备、机内测试设备(BITE)、通用电子测试设备(GPETE)、专
用电子测试设备(SPETE)、机械测试设备和仪器、以及进行测试监测的硬件和软件。 |
| ·测试设备： | 为了实现监测、故障检测和故障隔离所要求的电气、电子、机械、液压、气动等设备，或这些
设备的组合。 |
| ·通用测试设备： | 测量多种不同系统或设备共有的一组参数量程所用的测试设备。 |
| ·专项测试设备： | 为特定合同的需要而研制的设备。其主要目的是提供内场的测试能力，或者用于对开发
或生产最终产品的质量保证。有的专项测试设备可在承制方或订购方的工厂用作基地级测试
设备。 |
| ·专用测试设备： | 只能测试特定系统或设备的设备。 |
| ·集中测试系统： | 从多个分散安装的被测设备采集数据，在中心站进行数据处理、记录或显示的测试系统 |
| ·自动测试设备： | 自动进行功能和/或参数测试、评价性能下降程度或隔离故障的设备 |
| ·多端口自动测试设备： | 有多于两个功能接口，并共享一组公共测试资源的 ATE。 |
| ·半自动测试设备： | 在决定实施控制或评价功能时需要人工干预的自动测试设备。 |
| ·嵌入式测试设备： | 结构上包含在最终产品内或永久性连接于最终产品上的测试硬件和软件。 |
| ·机内测试设备： | 完成机内测试功能的设备。 |
| ·人工测试设备： | 基本上依赖于人工操作并由操作人员评定测试结果的测试设备。 |
| ·便携式设备： | 在使用场地之间容易携带的设备。不大于 5kg 不带提手易于手持的设备，不大于 23kg 带
有提手的设备都是便携式设备。 |
| ·联机测试设备： | 对处在正常工作环境的 UUT 进行测试的设备。 |
| ·脱机测试设备： | 对脱离正常工作环境的 UUT 进行测试的设备 |
| ·功能测试设备： | 把 UUT 作为一个完整的功能整体进行测试的 ATE，其典型情况是仅仅通过。UUT 的连
接器施加输入量和感测输出量。 |
| ·标准部件： | 作为测试设备组成部分的通常为可编程的测量或激励装置。 |
| ·开关插板： | 为 UUT 测试提供互连所需的插板。 |
| ·金板： | 测试过程中用于比较测试以识别故障板的无故障电路板。 |
| ·接插板： | 包含电端子矩阵的板，短的互连线(接插线)能以一定的方式插入电端子，以建立和改变电
路配置。为改变电路配置，只要取下一块布好线的接插板，而插上另一块布好线的接插板。 |
| ·孔式插板： | 由一种可拆卸的或半永久性的板组成的编程或转接装置。该板上有矩阵孔或插座，可在
上面以各种模式放置短路针脚，以建立特定的程序或试验的电路结构。 |
| ·测试台架： | 为了把电气、机械或液压设备作为一个完整系统进行测试，而专门设计用来提供适用于安
装、连接和控制的一种设备。 |
| ·电子刀： | 一种探头。主要在数字电路中检测电流方向，加速对网络故障节点的隔离。 |
| ·控制点选择器： | 能选择和控制适当的激励、加电或加载，并按照程序指令将其加到 UUT 上的一种装置。 |
| ·十字开关： | 具有“n”个垂直通道和“m”个水平通道，构成“n”乘“m”交叉点或相互连接点的十字扫描
装置。 |
| ·针式电子装置： | 一种 ATE 的结构装置，它在每个接口探针上具有完善的测试能力，使得由于布线和接口
的限制所引起的系统性能降低的影响减至最小。 |
| ·变换器： | 将信息表达方式或电能从一种形式改变成另一种形式的装置。 |
| ·比较器： | a.将测量值与预定容限比较，以确定其值是否在容限之内的一种装置。
b.比较数字信号是否一致的一种装置。 |
| ·电路板测试设备： | 用于测试和诊断印制电路板的设备。 |
| ·模拟器： | 模拟一个所要求的系统或状态，为 UUT 提供合适的输入及终端的一种设备或模拟程序。 |
| ·串行模拟器： | 能在整个激励集的范围内对电路中所有的故障逐个进行模拟的设备或程序。 |
| ·接口： | 两个设备或系统按规范互连的共享界面。 |
| ·输入/输出接口： | ATE 中的连接装置，ATE 中所有的模拟信号和数字信号都通过它对 UUT 进行测试。 |
| ·接口装置： | 在测试装置与 UUT 之间提供机械和电气连接，并提供信号调节的任何装置。 |
| ·测试适配器： | 在 UUT 和测试设备之间提供电子、电气和机械兼容的一个或一系列装置，可以包括测试
设备中并不具备的适当激励或负载。 |
| ·自检测试适配器： | 在.ATE 自检测试时，用于代替 UUT 的-种适配器。 |
| ·金点接口适配器： | 使用无针连接的一类接口适配器。它能缩小接口尺寸，增加可靠性，避免针定位问题 |
| ·针床接口适配器： | 用-系列弹簧针或钉与 UUT 接触的-种接口适配器 |
| ·人机接口模块： | 在测试或诊断设备中所用的提供人机之间信息交换的模块。 |
| ·专用板： | 插入测试适配器中使该测试适配器与具体的 UUT 的 I/O：相兼容的印制电路板 |
| ·测试夹具： | 在 ULIT 和测试设备之间，保证电气、电子、气动以及机械兼容的夹具。 |
| ·测试软件： | ATE 或 TMDE 中用于测试 UUT 的测试程序 |
| ·测试支持软件： | 用于测试软件开发、分析和维护的计算机程序。 |
| ·测试管理软件： | 管理测试系统监控程序和模块控制程序的软件模块。 |
| ·自动测试设备系统软件： | ATE 的整体软件环境，包括操作系统、测试管理程序、用户接口程序、系统自检程序和运
行测试程序所要求的其它软件。但不包括对 UUT 的测试程序。 |
| ·自动测试设备控制软件： | 在执行测试程序期间，控制 ATE 的非测试操作的软件。这个软件用于执行测试过程，但
不包含任何在 UUT 测试时使用的激励或测量参数。在测试软件和控制软件组合成一个不可
分离的程序时，该程序作为测试软件。而不作为控制软件。 |
| ·测试程序： | ATE 执行的代码序列，它给 ATE 提供一组能自动确定 UUT 工作条件和在 UUT 内检测
并隔离故障的指令。 |
| ·测试程序集： | 用 ATE 对 UUT 进行测试所必需的产品。TPS 的要素包括测试程序(TP)、接口装置
(ID)和测试程序集文件(TPSD)。 |
| ·测试程序综合： | 为确保测试功能特性，对 ATE、TPS 和 UUT 进行的初始配套。 |
| ·测试程序集综合： | TPS 研制的—个阶段，在该阶段研制人员把 TPS 要素与 UUT 和 ATE 配合起来以达到调
试 TPS 的目的。 |
| ·测试程序说明： | 测试所需信息(如测试挂钩、探点位置或需要编程人员干预的信息)的说明，而在 TP 控制
下 ATE 不能简便提供这些信息。 |
| ·测试程序集文件： | 用 ATE 确定 UUT 工作条件并完成对 UUT 故障检测和故障诊断所必需的文字信息，它
不包括由 ATE 提供的打印信息。TPSD 的要素是测试程序说明(TPI)和辅助资料。在中继级
维修时必需有 TPSD。 |
| ·自动测试程序生成器： | 能自动产生测试模式并对 UUT 电路结构信息响应的计算机程序。 |
| ·故障模拟器： | 对于数字量，在由测试激励模式演练的代表数字电路的节点上，注入研究模拟故障的计算
机程序。对于模拟量，这是模拟超差元件影响的模拟电路分析程序。 |
| ·模式生成器： | 给电路产生输入激励的程序 |
| ·操作测试程序： | 用于特定 UUT 或功能上相关的 UUT 组的可执行的测试程序 |
| ·操作测试程序集： | 由硬件、软件、文件等产品组成的单个 TPS 或 TPS 组，这些产品使得 UUT 能被连接到
ATE，以进行测试、故障检测和故障隔离，故障隔离到 SRU 或元器件，并且能用 ATE 进行校
验。 |
| ·操作测试程序说明： | 测试所需信息(如测试挂钩、探点位置或需要编程人员干预的信息)的说明，而在 OTP 控
制下 ATE 不能简便提供这些信息。 |
| ·测试语言： | 为表示一种或多种自动测试特性而专门设计的计算机语言。 |
| ·运行时间性能验证软件： | 与 ATE 有关的一种软件。在进行测试以前该软件可对激励和响应进行调整，以确保测试
准确度。 |
| ·面向自动测试设备语言： | 为 ATE 编制测试 UUT 程序所用的计算机语言。 |
| ·主测试程序集索引： | 由 UUT 标识符构成的参考系统，它含有执行测试程序需要的所有 TPS 要素的编号说明 |
| ·算法生成模式： | 通过预定的软件例行程序可自动实时产生和应用的一个数据阵列。 |
| ·测试规范： | 为了—个特定的测试目的(例如，产品的验收等)，对 UUT 进行测试所需的有关文件。它
规定性能特征要求、接口要求、测试内容、测试条件和激励值以及有关响应。 |
| ·测试要求文件： | 包括对 UUT 的性能特征要求和接口要求，以及规定试验条件、激励值和相应响应所需要
的规范文件，用于：(a)指明工作正常的 UUT；(b)检测和指明所有故障以及超差的状态；(c)调
整和调准 UUT；(d)按已确定的维修方案，把每个故障或超差状态隔离到约定层次和模糊度。 |
| ·测试图： | ATE 与 UUT 的互连图，它给出进行—个或一组测试所要求的连接线路。 |
| ·功能测试流程图： | 表示整个测试工作的功能测试序列的流程图。 |
| ·功能流程图： | 使用程序符号表示的一种图形，用来确定功能测试从开始直到结束的序列。 |
| ·技术修理标准： | 说明对 UUT 应如何测试、故障隔离、修复以及复测的文件。 |