| ·最小假设初始缺陷尺寸： | 为用于分析结构剩余强度和裂纹增长特性而假设的初始最小缺陷。
（GJB 540.10-88 飞航导弹强度和刚度规范地面试验） |
| ·初始缺陷： | 初始缺陷是认为导弹在交付使用之前结构就带有的预存缺陷(如孔边角裂纹，孔边穿透裂纹等)。
（GJB 540.10-88 飞航导弹强度和刚度规范地面试验） |
| ·缺陷分析： | 通过检查技术及管理(非技术的)数据,确定造成电气、机械及物理特性超出规定界限的原因。
（GJB 546-88 电子元器件可靠性保证大纲） |
| ·磁带缺陷： | 指磁带磁层的空洞，表面粘附氧化物或裁带碎屑、磨损产物、外界颗粒状物质，以及裁带宽
度超差。带基材料压光不当等。
（GJB 727-89 遥测系统术语） |
| ·单位产品： | 为了实施检验，确定合格品、不合格品或计算缺陷数，将被检验的对象划分为基本单位，称
为单位产品。它可以是单件产品、一对产品、一组产品、一件成品的部件，或是一定长度、一定
面积、一定体积、一定重量的产品。它与采购、销售、生产或运输的单位产品可以一致，也可以
不一致。
（GJB 367.4-87 军用通信设备通用技术条件验收规则） |
| ·氧化层缺陷： | 氧化层中由边缘处两条或三条彩色条纹所表征的不规则形状缺陷。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·缺陷： | 外形、装配、功能或工艺与规定的要求不相符合。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·与批有关的缺陷： | 由于设计或者制造、试验、或检验过程变化而导致重复出现的缺陷(例如掩模版缺陷，金属化层厚
度、键合强度、绝缘电阻、以及金属化层布线间距、引线之间或引线与芯片边缘之间的间距)。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·可筛选的缺陷： | 一种采用非破坏性筛选试验或检验能有效检测出的缺陷。
（GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序） |
| ·单位产品： | 为了实施抽样检查，而将被检查的对象划分的基本单位。它可以是单件产品、一对产品、一组产品、一件成品的部件、或是一定长度、一定面积、一定体积、一定重量的产品等等。它与采购、销售、生产和运输规定的单位产品可以一致，也可以不一致。
（GJB 179-86 计数抽样检查程序及表） |