| ·轮廓滤波器： | 把轮廓分成长波和短波成分的滤波器。
注:在测量粗糙度、波纹度和原始轮廓的仪器中使用三种滤波器(见图1)。它们的传输特性相同,截止波长不同。 |
| ·λs滤波器： | 确定存在于表面上的粗糙度与比它更短的波的成分之间相交界限的滤波器(见图1)。 |
| ·λc滤波器： | 确定粗糙度与波纹度成分之间相交界限的滤波器(见图1)。 |
| ·λf滤波器： | 确定存在于表面上的波纹度与比它更长的波的成分之间相交界限的滤波器(见图1)。
|
| ·坐标系： | 确定表面结构参数的坐标体系。
注:通常采用一个直角坐标体系,其轴线形成一右旋笛卡尔坐标系,X轴与中线方向一致,Y轴也处于实际表面上,
而Z轴则在从材料到周围介质的外延方向上。 |
| ·实际表面： | 物体与周围介质分离的表面。 |
| ·表面轮廓： | 平面与实际表面相交所得的轮廓(见图2)。
注:实际上,通常采用一条名义上与实际表面平行和在一个适当方向的法线来选择一个平面。
|
| ·原始轮廓： | 在应用短波长滤波器λs之后的总的轮廓。
注:原始轮廓是评定原始轮廓参数的基础。 |
| ·粗糙度轮廓： | 粗糙度轮廓是对原始轮廓采用λc滤波器抑制长波成分以后形成的轮廓。这是故意修正的轮廓(见
图1)。
注
1粗糙度轮廓的传输频带是由λs和λc轮廓滤波器来限定的。
2粗糙度轮廓是评定粗糙度轮廓参数的基础。
3λc和λs之间的关系本标准不做规定。 |
| ·波纹度轮廓： | 波纹度轮廓是对原始轮廓连续应用λf和λc两个滤波器以后形成的轮廓。采用λf滤波器抑制长波
成分,而采用λc滤波器抑制短波成分。这是故意修正的轮廓。
注
1在运用分离波纹度轮廓的λf滤波器以前,应首选通过最小二乘法的最佳拟合从总轮廓中提取标称的形状。对于
圆的标称形式,建议将半径也包含在最小二乘的优化计算中,而不是保持固定的标称值。这个分离波纹度轮廓的
过程限定了理想的波纹度运算操作。
2波纹度轮廓的传输频带是由λf和λc轮廓滤波器来限定的。
3波纹度轮廓是评定波纹度轮廓参数的基础。 |
| ·中线： | 具有几何轮廓形状并划分轮廓的基准线。 |
| ·粗糙度轮廓中线： | 用轮廓滤波器λc抑制了长波轮廓成分相对应的中线。 |
| ·波纹度轮廓中线： | 用轮廓滤波器λf抑制了长波轮廓成分相对应的中线。 |
| ·原始轮廓中线： | 用标称形式的线穿过原始轮廓,按最小二乘法拟合所确定的中线。 |
| ·取样长度： | 用于判别被评定轮廓的不规则特征的X轴向上的长度。
注:评定长度粗糙度和波纹度轮廓的取样长度lr和lw在数值上分别与轮廓滤波器λc和λf的标志波长相等。原始
轮廓的取样长度lp则与评定长度相等。 |
| ·评定长度： | 用于判别被评定轮廓的X轴方向上的长度。
注:评定长度包含一个或和几个取样长度。 |
| ·P-参数： | 从原始轮廓上计算所得的参数。 |
| ·R-参数： | 从粗糙度轮廓上计算所得的参数。 |
| ·W-参数： | 从波纹度轮廓上计算所得的参数。
注:在第4章中定义的参数可从任何轮廓中算得,参数符号中的第一个大写字母表示被评定轮廓的类型。例如:Ra
是从粗糙度轮廓中算得,而Pt是从原始轮廓中算得。 |
| ·轮廓峰： | 连接(轮廓和X-轴)两相邻交点向外(从材料到周围介质)的轮廓部分。 |
| ·轮廓谷： | 连接两相邻交点向内(从周围介质到材料)的轮廓部分。 |
| ·高度和间距辨別力： | 应计入被评定轮廓的轮廓峰和轮廓谷的最小高度和最小间距。
注:轮廓峰和轮廓谷的最小高度通常用Pz、Rz、Wz或任一振幅参数的百分率来表示,最小间距则以取样长度的百
分率给出。 |
| ·轮廓单元： | 轮廓峰和轮廓谷的组合(见图3)。
注:在取样长度始端或末端的评定轮廓的向外部分和向内部分看做是一个轮廓峰或一个轮廓谷。当在若干个连续
的取样长度上确定若干个轮廓单元时.在每一个取样长度的始端或末端评定的峰和谷仅在每个取样长度的始
端计入一次。
|
| ·纵坐标值： | 被评定轮廓在任一位置距X轴的高度。
注:若纵坐标位于X轴下方,该高度被视作负值,反之则为正值。 |
| ·局部斜率： | 评定轮廓在某一位置x1的斜率(见图4)。
注
1
局部斜率和这些参数P△q、R△q、W△q的数值主要视纵坐标间距△X而定。
2计算局部斜率的公式之一
式中Z1为第i个轮廓点的高度,△X为相邻两轮廓点之间距。
|
| ·轮廓峰高： | 轮廓最高点距X轴线的距离(见图3)。 |
| ·轮廓谷深： | X轴线与轮廓谷最低点之间的距离(见图3)。 |
| ·轮廓单元的高度： | -个轮廓单元的峰高和谷深之和(见图3)。 |
| ·轮廓单元的宽度： | X轴线与轮廓单元相交线段的长度(见图3)。 |
| ·轮廓滤波器： | 把轮廓分成长波和短波成分的滤波器。
注:在测量粗糙度、波纹度和原始轮廓的仪器中使用三种滤波器(见图1)。它们的传输特性相同,截止波长不同。 |
| ·λs滤波器： | 确定存在于表面上的粗糙度与比它更短的波的成分之间相交界限的滤波器(见图1)。 |
| ·λc滤波器： | 确定粗糙度与波纹度成分之间相交界限的滤波器(见图1)。 |
| ·λf滤波器： | 确定存在于表面上的波纹度与比它更长的波的成分之间相交界限的滤波器(见图1)。
|
| ·坐标系： | 确定表面结构参数的坐标体系。
注:通常采用一个直角坐标体系,其轴线形成一右旋笛卡尔坐标系,X轴与中线方向一致,Y轴也处于实际表面上,
而Z轴则在从材料到周围介质的外延方向上。 |
| ·实际表面： | 物体与周围介质分离的表面。 |
| ·表面轮廓： | 平面与实际表面相交所得的轮廓(见图2)。
注:实际上,通常采用一条名义上与实际表面平行和在一个适当方向的法线来选择一个平面。
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| ·原始轮廓： | 在应用短波长滤波器λs之后的总的轮廓。
注:原始轮廓是评定原始轮廓参数的基础。 |
| ·粗糙度轮廓： | 粗糙度轮廓是对原始轮廓采用λc滤波器抑制长波成分以后形成的轮廓。这是故意修正的轮廓(见
图1)。
注
1粗糙度轮廓的传输频带是由λs和λc轮廓滤波器来限定的。
2粗糙度轮廓是评定粗糙度轮廓参数的基础。
3λc和λs之间的关系本标准不做规定。 |
| ·波纹度轮廓： | 波纹度轮廓是对原始轮廓连续应用λf和λc两个滤波器以后形成的轮廓。采用λf滤波器抑制长波
成分,而采用λc滤波器抑制短波成分。这是故意修正的轮廓。
注
1在运用分离波纹度轮廓的λf滤波器以前,应首选通过最小二乘法的最佳拟合从总轮廓中提取标称的形状。对于
圆的标称形式,建议将半径也包含在最小二乘的优化计算中,而不是保持固定的标称值。这个分离波纹度轮廓的
过程限定了理想的波纹度运算操作。
2波纹度轮廓的传输频带是由λf和λc轮廓滤波器来限定的。
3波纹度轮廓是评定波纹度轮廓参数的基础。 |
| ·中线： | 具有几何轮廓形状并划分轮廓的基准线。 |
| ·粗糙度轮廓中线： | 用轮廓滤波器λc抑制了长波轮廓成分相对应的中线。 |
| ·波纹度轮廓中线： | 用轮廓滤波器λf抑制了长波轮廓成分相对应的中线。 |
| ·原始轮廓中线： | 用标称形式的线穿过原始轮廓,按最小二乘法拟合所确定的中线。 |
| ·取样长度： | 用于判别被评定轮廓的不规则特征的X轴向上的长度。
注:评定长度粗糙度和波纹度轮廓的取样长度lr和lw在数值上分别与轮廓滤波器λc和λf的标志波长相等。原始
轮廓的取样长度lp则与评定长度相等。 |
| ·评定长度： | 用于判别被评定轮廓的X轴方向上的长度。
注:评定长度包含一个或和几个取样长度。 |
| ·P-参数： | 从原始轮廓上计算所得的参数。 |
| ·R-参数： | 从粗糙度轮廓上计算所得的参数。 |
| ·W-参数： | 从波纹度轮廓上计算所得的参数。
注:在第4章中定义的参数可从任何轮廓中算得,参数符号中的第一个大写字母表示被评定轮廓的类型。例如:Ra
是从粗糙度轮廓中算得,而Pt是从原始轮廓中算得。 |
| ·轮廓峰： | 连接(轮廓和X-轴)两相邻交点向外(从材料到周围介质)的轮廓部分。 |
| ·轮廓谷： | 连接两相邻交点向内(从周围介质到材料)的轮廓部分。 |
| ·高度和间距辨別力： | 应计入被评定轮廓的轮廓峰和轮廓谷的最小高度和最小间距。
注:轮廓峰和轮廓谷的最小高度通常用Pz、Rz、Wz或任一振幅参数的百分率来表示,最小间距则以取样长度的百
分率给出。 |
| ·轮廓单元： | 轮廓峰和轮廓谷的组合(见图3)。
注:在取样长度始端或末端的评定轮廓的向外部分和向内部分看做是一个轮廓峰或一个轮廓谷。当在若干个连续
的取样长度上确定若干个轮廓单元时.在每一个取样长度的始端或末端评定的峰和谷仅在每个取样长度的始
端计入一次。
|
| ·纵坐标值： | 被评定轮廓在任一位置距X轴的高度。
注:若纵坐标位于X轴下方,该高度被视作负值,反之则为正值。 |
| ·局部斜率： | 评定轮廓在某一位置x1的斜率(见图4)。
注
1
局部斜率和这些参数P△q、R△q、W△q的数值主要视纵坐标间距△X而定。
2计算局部斜率的公式之一
式中Z1为第i个轮廓点的高度,△X为相邻两轮廓点之间距。
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| ·轮廓峰高： | 轮廓最高点距X轴线的距离(见图3)。 |
| ·轮廓谷深： | X轴线与轮廓谷最低点之间的距离(见图3)。 |
| ·轮廓单元的高度： | -个轮廓单元的峰高和谷深之和(见图3)。 |
| ·轮廓单元的宽度： | X轴线与轮廓单元相交线段的长度(见图3)。 |
| ·在水平位置c上轮廓的实体材料长度： | 在一个给定水平位置c上用一条平行于X轴的线与轮廓单元相截所获得的各段截线长度之和(见
图5)。
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