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老化和电测试要求

标准号：GJB 597.6-90 标准名称：半导体集成电路CMOS触发器、锁存器(JC4013、JC4027、JC4043)详细规范 1990-10-31

同源图形

绝对最大额定值

推荐工作条件

25℃下的变化量极限

高压试验的方式

25℃下的辐射加固终点

辐射期间的偏置

阀值电压试验条件

阀值电压试验条件

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-般测试配置
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非导电表面设置 EUT
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独立的 EUT、多个 EUT
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独立 EUT 的测试配置
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测试配置图
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测试配置
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小功率发射机测试配置
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大功率发射机测试配置
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发射机(待发状态)和接
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电源线尖峰信号(时域)
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