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基本信息

GJB 33.006-89
半导体分立器件电压调整和电压基准二极管空白详细规范
Semiconductor discrete device Blank detail specification for voltage-regulator and voltage-reference diodes
1989-08-24
1989-12-31
废止
机械电子工业部电子标准化研究所
机械电子工业部
国防科学技术工业委员会
二极管;半导体分立器件;详细规范;噪声电压;电压调整
【范围】 1.1 范围 本标准规定了[具体型号和具体材料]电压调整和电压基准二极管的详细要求。该种器件 按GJB33的规定,提供产品保证的[×]个等级[用圆括号给出具体等级,如GP、GT和(或) GCT级]。 1.2 外形尺寸 外形尺寸应符合GB7581《半导体分立器件外形尺寸》的[具体外形代号]型及如下规定,见 图1: [应给出完整的外形图和具体尺寸作为图1,并注明引出端的极性。] 1.3 最大额定值 [应根据具体产品和被采用的标准具体给出。] [调整管最大额定值见本规范表5的6、7和9拦,基准管最大额定值见本规范表6的3、5 栏及如下规定: P ZM =[×]W,[T A 、T L 或Tc=×℃],T A (T L 或Tc)>[×]℃时,按[×]mW/℃的速率降 额。 (T L 系指距管体L处引线上的温度) —[×]℃≤Top≤[×]℃ —[×]℃≤Tst≤[×]℃ 1.4 主要电特性(T A =25℃) [应根据具体产品和被采用的标准具体给出。] 调整管主要电特性见本规范表5的2、11和15栏,基准管主要电特性见本规范表6的2、 6和10栏及如下规定: R th =[×]℃/W
【与前一版的变化】

引用文件/被引文件

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包含图表

筛 选
A组检验
A组检验
A组检验
B组检验
C组检验
C组检验
C组检验
B组、C组电测试
电压调整管电特性和测
电压基准管电特性和测
电压长期稳定性
噪声密度和宽带噪声电
低频噪声电压测试原理
长期稳定性测试原理图

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