全文阅读 全文下载 章节阅读

基本信息

【范围】	1.1 范围 本规范规定了NPN硅大功率晶体管的详细要求，器件按GJB33-85的规定。提供三个产 品保证等级。 1.2 外形尺寸 外形尺寸见图1。{bb6b087eb892b8e7532417a6775ba180.jpg} 1.3 最大额定值 {fdfcf2a33e1d7a83e4284322efaf23cc.jpg}1.4 主要电特性(Tc＝25±3℃)： {b518b35dfe8b4e918f31756786169d1b.jpg} {ecb08e0c19c7826ed8f80f128ce8e4b7.jpg}
【与前一版的变化】

引用文件/被引文件

GJB 33-85

半导体分立器件总规范

GJB l28-86

半导体分立器件试验方法

GJB 4587-86

双极型晶体管测试方法

相关标准

·GJB 128-86

半导体分立器件试验方法

·GJB 548A-96

微电子器件试验方法和程序

·GJB 128A-97

半导体分立器件试验方法

·GJB 33.001-89

半导体分立器件高频小功率晶体管空白详细规范

·GJB 33.002-89

半导体分立器件低频大功率晶体管空白详细规范

·GJB 33.003-89

半导体分立器件5W、1GHz以下的单栅场效应晶体管空白详细规范

·GJB 33.004-89

半导体分立器件功率开关晶体管空白详细规范

·GJB 33.005-89

半导体分立器件开关二极管空白详细规范

·GJB 33.006-89

半导体分立器件电压调整和电压基准二极管空白详细规范

·GJB 33.007-89

半导体分立器件整流二极管空白详细规范

包含图表

最大额定值	主要电特性	主要电特性
A组检验	A组检验	A组检验
筛选	B组检验	B组检验
C组检验	C组检验	A、B和C组后测试
3DD3716型晶体管的外	测试电路A	开关时测试电路
最大直流安全工作区	开关安全工作-饱合与	开关安全工作区-饷和
钳位电感扫描试验电路	测试电路	试验电路
试验电路