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基本信息

【范围】	1.1 范围 本规范规定了3CK2907型PNP硅小功率开关晶体管的详细要求。每档器件均按GJB33 《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级)。 1.2 外形尺寸 外型尺寸按GB7581《半导体分立器件外形尺寸》的A3－01B型及如下规定： {4a937530ee6f936598c5b42bacfd9d64.jpg}1.3 最大额定值 {06224e689eff82c21b765b1a7f613f79.jpg}1.4 主要电特性(T A ＝25℃) {2d6af14d8b37dcf866c70926e23c1405.jpg} {cff0d234fea590fddbdec568c8286014.jpg}
【与前一版的变化】

引用文件/被引文件

GJB 33

半导体分立器件总规范

GJB 128

半导体分立器件试验方法

GB 4587

双极型晶体管测试方法

GB 7581

半导体分立器件外形尺寸

相关标准

·GJB 128-86

半导体分立器件试验方法

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微电子器件试验方法和程序

·GJB 128A-97

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·GJB 734-89

旋转开关(电路选择器，小电流容量)总规范

·GJB 734A-2002

旋转开关(电路选择器，小电流容量)通用规范

·GJB 735-89

密封钮子开关总规范

·GJB 33.001-89

半导体分立器件高频小功率晶体管空白详细规范

·GJB 33.002-89

半导体分立器件低频大功率晶体管空白详细规范

·GJB 33.003-89

半导体分立器件5W、1GHz以下的单栅场效应晶体管空白详细规范

·GJB 33.004-89

半导体分立器件功率开关晶体管空白详细规范

包含图表

外形尺寸	最大额定值	主要电特性
主要电特性	筛选	A组检验
A组检验	A组检验	A组检验
B组检验	C组检验	B组和C组最后测试
集电极-发射极击穿电	输入电容(输出端开路	饱和开通时间测试电路
饱和关断时间测试电路