当前位置 >首页 > 标准信息

全文阅读 全文下载 章节阅读

【标准号】: GJB/J 5463-2005
【中文名称】: 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程
【英文名称】: Verification regulation for measurement equipment of optical film refractive index and thickness
【发布时间】: 2005-12-12
【实施时间】: 2006-05-01
【有效性】: 有效
【起草人】: 王雷;黎高平;胡容;杨照金;
【起草单位】: 中国兵器工业第二○五研究所
【提出单位】: 中国兵器工业集团公司
【归口单位】: 中国兵器工业标准化研究所
【批准单位】: 国防科学技术工业委员会
【分类】: GJB 832A-2005>通用基础标准>军事计量标准(XFL 0113)
【备案号】
【自动关键词】: 折射率;最大允许误差;测试仪;光学薄膜;检定规程

【范围】	本检定规程规定了光谱范围 250nm～1700nm 椭偏法光学薄膜折射率和厚度测试仪(以下简称测试仪)的检定技术要求、检定项目、检定条件、检定方法、检定结果的处理和检定周期。本检定规程适用于新制造、使用中与修理后的测试仪的检定。
【与前一版的变化】