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基本信息

GJB 3523-99
S15型超大规模数字集成电路测试系统检定规程
1999-03-24
1999-09-01
张莉香;毛永刚;朱正伟;聂海谱;马风翔;
电子工业部标准化研究所
中华人民共和国电子工业部
中国电子技术标准化研究所
中国人民解放军总装备部
检定装置;自动检定;检定规程;数字集成电路;测试系统
【范围】 1.1 主题内容 本检定规程规定了 S15 型超大规模数字集成电路测试系统(以下简称为 s15)的技术要求 检定条件、检定项目、检定方法、检定结果的处理及检定周期。 1.2 适用范围 本检定规程适用于 S15 直流参量的自动检定和交流参量的半自动检定。
【与前一版的变化】

包含术语

时偏是指在集成电路测试系统中,由定时系统同一时刻发出的脉冲信号到达测试头各通道的 时间差。

包含缩略语

DP器件电源。
DV驱动器。
EDL发射极耦合逻辑电路。
FVMI加压测流
FIMV加流测压。
LSI大规模集成电路。
MSI中规模集成电路。
PMU精密测量单元。
i.Rvs参考电压源。
SSI小规模集成电路。
TTL晶体管-晶体管逻辑电路。
VLSI超大规模集成电路。

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包含图表

加压或测压指标
系统精密测量单元
器件电源指标
定时系统指标
182 型高灵敏度电压表
直流参量自动检定框图
2 直流参量自动检定流
自动检定总控制程序
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下拉子
PMU 检定流程图
项目
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自动检定。
主菜单的“
子菜单
子菜单
交流参量半自动检定框
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主菜单:
下列提示
提示
参量测量主菜单
子菜单:
提示
提示
交流参量的 Skew 检定

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