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基本信息
【标准号】
GJB 3523-99
【中文名称】
S15型超大规模数字集成电路测试系统检定规程
【英文名称】
【发布时间】
1999-03-24
【实施时间】
1999-09-01
【有效性】
【起草人】
张莉香
;
毛永刚
;
朱正伟
;
聂海谱
;
马风翔
;
【起草单位】
电子工业部标准化研究所
【提出单位】
中华人民共和国电子工业部
【归口单位】
中国电子技术标准化研究所
【批准单位】
中国人民解放军总装备部
【分类】
【备案号】
【自动关键词】
检定装置
;
自动检定
;
检定规程
;
数字集成电路
;
测试系统
【范围】
1.1 主题内容 本检定规程规定了 S15 型超大规模数字集成电路测试系统(以下简称为 s15)的技术要求 检定条件、检定项目、检定方法、检定结果的处理及检定周期。 1.2 适用范围 本检定规程适用于 S15 直流参量的自动检定和交流参量的半自动检定。
【与前一版的变化】
包含术语
时偏
:
是指在集成电路测试系统中,由定时系统同一时刻发出的脉冲信号到达测试头各通道的 时间差。
包含缩略语
DP
:
器件电源。
DV
:
驱动器。
EDL
:
发射极耦合逻辑电路。
FVMI
:
加压测流
FIMV
:
加流测压。
LSI
:
大规模集成电路。
MSI
:
中规模集成电路。
PMU
:
精密测量单元。
i.Rvs
:
参考电压源。
SSI
:
小规模集成电路。
TTL
:
晶体管-晶体管逻辑电路。
VLSI
:
超大规模集成电路。
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包含图表
加压或测压指标
系统精密测量单元
器件电源指标
定时系统指标
182 型高灵敏度电压表
直流参量自动检定框图
2 直流参量自动检定流
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