| 电子元器件： | 在电子线路或电子设备中执行电气、电子、电磁、机电和光电功能的基本单元。该基本单
元由若干个零件组成，在一般情况下，不经破坏是不能将其分解的。 |
| 补充筛选： | 为进一步提高元器件的可靠性，元器件订购方或其委托单位在承制方筛选的基础上进行
的筛选。 |
| 降额： | 元器件实际使用中承受的应力低于其额定值，以达到延缓其参数退化，提高应用可靠性的
目的。降额的量值通常用应力比和环境温度来表示；应力比又称为降额系数，一般应小于1。 |
| 破坏性物理分析： | 以验证元器件的设计结构、材料和制造质量是否满足有关规范的要求或预定用途为目的，
对元器件的样品进行解剖，在解剖前后进行一系列检验和分析的全过程。 |
| 寿命终止设计极限： | 元器件在设计环境中和使用期内，其电参数预期的变化。参数的变化一般以超过规定的
最小值或最大值的百分比表示，电路设计时应考虑在系统寿命期内，允许这些变化。 |
| 辐射验证试验： | 对于有辐射强度保证(RHA)等级的元器件，按产品规范的规定进行一系列的试验和检
测，以验证是否达到RHA等级；对于辐射敏感但无RHA等级的元器件，按有关规定进行一系
列试验和检测，以确定其抗辐射的能力。为此目的进行的试验和检测，称为辐射验证试验，以
RVT表示。 |