| 显示： | 在无损检测中，需要对其形成原因和重要性做出解释的响应和形迹。磁粉检验中被检件表面上的磁
粉痕迹；渗透检验中被检件表面上的渗透剂痕迹。 |
| 线形显示： | 长轴和短轴之比等于或大于 3 的显示。 |
| 圆形显示： | 长轴和短轴之比小于 3 的显示。 |
| 相关显示： | 与被检件验收有关的缺陷所引起的显示。 |
| 非相关显示： | 与被检件验收无关的因素所引起的真实显示。磁粉检验中，由于被检件截面的突变、局部冷作硬化、
材料组织不匀，磁写，磁化电流过大等原因，使被检件表面形成的磁粉显示；渗透检验中，由于被检件
的键槽、装配缝隙、搭接焊缝隙等外形结构的原因，装配压痕、铆接印痕、划痕、毛刺等表面的原因，
使被检件表面产生的渗透显示。 |
| 假显示： | 不适当的方法和不适当的操作引起的显示。磁粉检验中，由于被检件表面的不洁净、粗糙、凹陷，
磁悬液浓度过大等原因引起的磁粉堆积和磁粉痕迹；渗透检验中，由于操作者的手、工作台、工具、材
料被渗透剂污染及渗透剂清洗水的飞溅等原因，使被检件的表面被污染，产生渗透剂痕迹。 |
| 缺陷： | 被检件的外形或材料组织的间断。间断既可能因其尺寸、形状、取向、位置或性质影响了零件的可
用性，不满足验收标准的要求，也可能不影响被检件的可用性而满足验收标准的要求。典型缺陷及特征
参见附录 A。 |